Published 1982 | Version v1
Book

Evaluation and testing in X-ray spectrometry

Creators

Description

In the book, which is dedicated to the interested practician, the following subjects are treated in an imaginative and comprehensive way with the help of many practical examples: 1) Foundations of evaluation; 2) Linear evaluation; 3) Nonlinear evaluation; 4) Application of sequared evaluation; 5) Analysis errors; 6) Analytical boundary values; 7) Counting statistics; 8) Optimization of measuring time; 9) Weighted regression; 10) Trace analysis; 11) Addition method; 12) Internal standard; 13) Matrix correction; 14) The Choise of correction elements; 15) The Influence of standard samples; 16) Statistical Test methods; 17) Freak values; 18) Comparison of methods and measuring system; 19) Testing of measuring systems; 20) Statistical addendum. (orig./HP)

Abstract (German)

Das fuer den interessierten Praktiker bestimmte Buch behandelt an Hand zahlreicher Anwendungsbeispiele anschaulich und verstaendlich folgende Themen: 1. Grundlagen der Auswertung; 2. Lineare Anwendung; 3. Nichtlineare Auswertung; 4. Anwendung der quadratischen Auswertung; 5. Analysenfehler; 6. Analytische Grenzwerte; 1. Zaehlstatistik; 8. Optimierung der Messzeit; 9. Gewichtete Regression; 10. Spurenanalyse; 11. Additionsmethode; 12. Innerer Standard; 13. Matrixkorrektur; 14. Auswahl der Korrekturelemente; 15. Einfluss der Standardproben; 16. Statistische Pruefmethoden; 17. Ausreisser; 18. Vergleich von Verfahren und Geraeten; 19. Pruefung von Geraeten; 20. Statistischer Anhang. (orig./HP)

Additional details

Additional titles

Subtitle (English)
An introduction
Original title (German)
Auswerten und Pruefen in der Roentgenspektrometrie
Original subtitle (German)
Eine Einfuehrung.

Publishing Information

Publisher
G-I-T Verl. E. Giebeler.
Imprint Place
Darmstadt (Germany, F.R.)
ISBN
3-921956-23-4
Imprint Pagination
154 p.

INIS

Country of Publication
Germany
Country of Input or Organization
Germany
INIS RN
15050233
Subject category
S46: INSTRUMENTATION RELATED TO NUCLEAR SCIENCE AND TECHNOLOGY; S37: INORGANIC, ORGANIC, PHYSICAL AND ANALYTICAL CHEMISTRY;
Descriptors DEI
ACCURACY; ERRORS; RECORDING SYSTEMS; X-RAY SPECTROSCOPY
Descriptors DEC
SPECTROSCOPY