Published February 2006
| Version v1
Journal article
High-resolution X-ray diffraction and topography study of periodically domain-inverted LiTaO3 crystal
- 1. RAN, Inst. Problem Tekhnologii Mikroehlektroniki i Osobo Chistykh Materialov, Chernogolovka, Moskovskaya Obl. (Russian Federation)
- 2. Moskovskij Gosudarstvennyj Inst. Stali i Splavov, Moscow (Russian Federation)
Description
High-resolution X-ray topography and diffraction analysis were used to study the regular domain structure (RDS) in the Z-cut of a LiTaO3 crystal formed by aftergrowth thermoelectrical treatment. It was shown that the topographic contrast and the intensity of diffracted X-ray radiation from the RDS were determined by the structure factor value which depended on the direction of spontaneous polarization vector PS and the order of the reflection used
Abstract (Russian)
Методы высокоразрешающей рентгеновской топографии и дифрактометрии использованы для исследования регулярной доменной структуры (РДС) в Z-срезе сегнетоэлектрического кристалла LiTaO3. РДС сформирована методом послеростовой термоэлектрической обработки вблизи температуры Кюри в условиях приложения знакопеременного электрического поля. Установлено, что топографический контраст и амплитуда дифрагированной рентгеновской интенсивности от РДС определяются направлением вектора спонтанной поляризации PS и порядком используемого отраженияAdditional details
Additional titles
- Original title (Russian)
- Применение методов высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии и топографии для анализа регулярных доменных структур в сегнетоэлектрическом кристалле LiTaO
Publishing Information
- Journal Title
- Poverkhnost'. Rentgenovskie, Sinkhrotronnye i Nejtronnye Issledovaniya
- Journal Issue
- no.2
- Journal Page Range
- p. 78-82
- ISSN
- 1028-0960
Conference
- Title
- Symposium Nanophysics and nanoelectronics
- Original Conference Title
- Simpozium Nanofizika i nanoehlektronika
- Dates
- 25-29 Mar 2005
- Place
- Nizhnij Novgorod (Russian Federation)
INIS
- Country of Publication
- Russian Federation
- Country of Input or Organization
- Russian Federation
- INIS RN
- 38055956
- Subject category
- S36: MATERIALS SCIENCE;
- Resource subtype / Literary indicator
- Conference
- Descriptors DEI
- CRYSTALS; DOMAIN STRUCTURE; ELECTRIC FIELDS; FERROELECTRIC MATERIALS; HEAT TREATMENTS; LITHIUM COMPOUNDS; TANTALATES; X-RAY DIFFRACTION
- Descriptors DEC
- ALKALI METAL COMPOUNDS; COHERENT SCATTERING; DIELECTRIC MATERIALS; DIFFRACTION; MATERIALS; OXYGEN COMPOUNDS; REFRACTORY METAL COMPOUNDS; SCATTERING; TANTALUM COMPOUNDS; TRANSITION ELEMENT COMPOUNDS
Optional Information
- Notes
- 14 refs., 4 figs.