Published May 2000 | Version v1
Journal article Metadata-only

X-ray analysis of the surface layer (Review)

Creators

  • 1. Moscovskij Gosudarstvennyj Inst. Stali i Splavov, Moscow (Russian Federation)

Description

A review of using x-ray diffractometry mainly polycrystal diffractometry with Bragg - Brentano focusing and slip beam in the study of the surface layer is presented. Problems of determination of the thickness of effectively absorbing layer, geometrical aberration attributed to defocusing, analysis of the parameters of thin crystalline structure including nondestructive control in depth, determination of phase composition, measurements of macrostresses, x-ray measurements of the average grain size in the surface layer are considered. Methods of x-ray nondestructive control of the coverage thickness are discussed

Abstract (Russian)

Сделан обзор применения рентгеновской дифрактометрии, главным образом поликристальной, с использованием фокусировки по Брэггу - Брентано и скользящего пучка для изучения поверхностного слоя. Обсуждаются определение толщины эффективно поглощающего слоя, вопросы геометрической аберрации из-за дефокусировки, анализ параметров тонкой кристаллической структуры, в том числе неразрушающее изучение их изменения по глубине. Рассматриваются вопросы определения фазового состава, измерения макронапряжений, рентгенографического измерения среднего размера зерна в поверхностном слое. Изложены рентгенодифракционные методы неразрушающего измерения толщины покрытий и пленок

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
Рентгеноструктурный анализ поверхностного слоя (обзор)

Publishing Information

Journal Title
Zavodskaya Laboratoriya
Journal Volume
66
Journal Issue
5
Journal Page Range
p. 24-35
ISSN
0321-4265
CODEN
ZVDLAU

INIS

Country of Publication
Russian Federation
Country of Input or Organization
Russian Federation
INIS RN
32054054
Subject category
S36: MATERIALS SCIENCE;
Descriptors DEI
COATINGS; CRYSTAL STRUCTURE; FILMS; GRAIN SIZE; HEAT RESISTING ALLOYS; METALLIC GLASSES; NICKEL BASE ALLOYS; NIOBIUM ALLOYS; PHASE STUDIES; REVIEWS; SURFACE PROPERTIES; THICKNESS; VANADIUM ALLOYS; X-RAY DIFFRACTION
Descriptors DEC
ALLOYS; COHERENT SCATTERING; DIFFRACTION; DIMENSIONS; DOCUMENT TYPES; HEAT RESISTANT MATERIALS; MATERIALS; MICROSTRUCTURE; NICKEL ALLOYS; SCATTERING; SIZE; TRANSITION ELEMENT ALLOYS

Optional Information

Notes
41 refs., 9 figs.