Published 2012
| Version v1
Journal article
Prospects for usage of the two-phase logic elements in fault-tolerant sub-100-nm CMOS
Creators
- 1. Natsional'nyj Issledovatel'skij Yadernyj Univ. MIFI, Moscow (Russian Federation)
Description
The authors assume that the threshold function is the function of the critical charge threshold value, the threshold value of the capacitance between differential input (output) interconnects of the two-phase CMOS inverter and the rise and decay time constants of the local ionization current pulse
Abstract (Russian)
Для оценки сбоеустойчивости КМОП инверторов с двухфазной структурой предложена пороговая характеристика, которая связывает пороговые значения критических зарядов с соответствующими пороговыми значениями емкостей дифференциальной связиAdditional details
Additional titles
- Original title (Russian)
- Перспективы использования двухфазной КМОП-логики в сбоеустойчивых суб-100-нм СБИС
Publishing Information
- Journal Title
- Vestnik Natsionalnogo Issledovatelskogo Yadernogo Universiteta «MEPhI»
- Journal Volume
- 1
- Journal Issue
- 2
- Journal Page Range
- p. 181-187
- ISSN
- 2304-487X
INIS
- Country of Publication
- Russian Federation
- Country of Input or Organization
- Russian Federation
- INIS RN
- 47074355
- Subject category
- S97: MATHEMATICAL METHODS AND COMPUTING;
- Descriptors DEI
- FUNCTIONS; INVERTERS; MATHEMATICAL LOGIC; MATHEMATICAL MODELS; MATHEMATICS; SIMULATION
- Descriptors DEC
- ELECTRICAL EQUIPMENT; EQUIPMENT
Optional Information
- Notes
- 8 refs., 4 figs., 2 tabs.