Published August 2004 | Version v1
Journal article

Growth of thermal oxide layers on GaAs and InP in the presence of ammonium heptamolybdate

  • 1. Voronezhskij Gosudarstvennyj Univ., (Russian Federation)

Description

Processes of thermal oxidation of GaAs and InP in the presence of ammonium heptamolybdate were studied using the methods of X-ray fluorescence analysis and IR spectroscopy at temperatures 480-580 Deg C. It was ascertained that introduction of the activator into the system results in accelerated growth of layers on semiconductors due to participation of anionic component of the chemostimulator in oxidation processes. The activator is integrated into the salts formed

Abstract (Russian)

С использованием методов рентгенофлуоресцентного анализа и ИК спектроскопии исследованы процессы термооксидирования GaAs и InP в присутствии гептамолибдата аммония при температурах 480-580 Deg C. Установлено, что введение в систему данного активатора приводит к ускоренному росту слоев на полупроводниках за счет участия анионной составляющей хемостимулятора в процессах окисления. Активатор включается в образующиеся слои

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
Рост термических оксидных слоев на GaAs и InP в присутствии гептамолибдата аммония

Publishing Information

Journal Title
Zhurnal Neorganicheskoj Khimii
Journal Volume
49
Journal Issue
8
Journal Page Range
p. 1243-1247
ISSN
0044-457X
CODEN
ZNOKAQ

Optional Information

Notes
11 refs., 5 tabs., 2 figs.