Published April 26, 2008
| Version v1
Journal article
Nanoparticle shaping under exposure to power nanosecond ion beam on thin metallic film on dielectric substrate
- 1. Omskij Filial IFP SO RAN, Omsk (Russian Federation)
- 2. Omskij Gosudarstvennyj Univ. im. F.M. Dostoevskogo, Omsk (Russian Federation)
Description
The formation of nanoparticles in a thin metal film-dielectric substrate system under the action of a high-power nanosecond pulsed proton-carbon ion beam has been studied. Parameters of the particles formed in aluminum and nickel films, their thickness ranging from 5 to 60-nm, on ST-50 glass ceramic substrates are presented. Possible mechanisms of nanoparticle formation are considered
Abstract (Russian)
Исследовано образование наночастиц на поверхности подложки после воздействия мощного протон-углеродного пучка наносекундной длительности на систему тонкая металлическая пленка - диэлектрическая подложка. Приведены параметры образующихся частиц для пленок Al и Ni толщиной в диапазоне 5-60 нм, нанесенных на подложки из ситалла СТ-50. Рассмотрены возможные механизмы формирования наночастицAdditional details
Additional titles
- Original title (Russian)
- Формирование наночастиц при воздействии мощного ионного пучка наносекундной длительности на тонкую металлическую пленку на диэлектрической подложке
Publishing Information
- Journal Title
- Pis'ma v Zhurnal Tekhnicheskoj Fiziki
- Journal Volume
- 34
- Journal Issue
- 8
- Journal Page Range
- p. 85-91
- ISSN
- 0320-0116
- CODEN
- PZTFDD
INIS
- Country of Publication
- Russian Federation
- Country of Input or Organization
- Russian Federation
- INIS RN
- 40088668
- Subject category
- S36: MATERIALS SCIENCE;
- Resource subtype / Literary indicator
- Numerical Data
- Descriptors DEI
- ALUMINIUM; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; BEAM CURRENTS; CARBON IONS; DIAGRAMS; DIELECTRIC MATERIALS; EXPERIMENTAL DATA; ION BEAMS; MELTING; NANOSTRUCTURES; NICKEL; PHYSICAL RADIATION EFFECTS; PROTON BEAMS; SUBSTRATES; SURFACE PROPERTIES; THIN FILMS; VAPOR PLATING
- Descriptors DEC
- BEAMS; CHARGED PARTICLES; CURRENTS; DATA; DEPOSITION; ELEMENTS; FILMS; INFORMATION; IONS; MATERIALS; METALS; MICROSCOPY; NUCLEON BEAMS; NUMERICAL DATA; PARTICLE BEAMS; PHASE TRANSFORMATIONS; PLATING; RADIATION EFFECTS; SURFACE COATING; TRANSITION ELEMENTS
Optional Information
- Notes
- 6 refs., 2 figs., 1 tab.