Published 2000
| Version v1
Journal article
Software for X-ray analysis of polycrystals
Creators
Description
The number of programs, each whereof solves certain problems on roentgenostructural analysis, associated with treatment of polycrystalline spectra, as well as powder spectra of certain layered structure with packaging defects, is developed. The standard and original methodologies for the polycrystal spectra treatment: qualitative and quantitative phase analyses, determination of the thin crystalline structure parameters and macrostrains by the polycrystal roentgenodiagram are realized in the program package. The application of the above programs significantly facilitates and quickens the performance of structural studies
Abstract (Russian)
Разработан ряд программ, каждая из которых решает определенные задачи рентгеноструктурного анализа, связанные с обработкой поликристаллических спектров, а также порошковых спектров некоторых слоистых структур с дефектами упаковки. В разработанном пакете программ реализованы стандартные и оригинальные методики обработки поликристаллических спектров: качественный и количественный фазовый анализы, определение параметров тонкой кристаллической структуры и макронапряжений, определение кристаллической структуры по рентгенограмме поликристалла. Использование данных программ значительно облегчает и ускоряет проведение структурных исследованийAdditional details
Additional titles
- Original title (Russian)
- Программы для рентгеновского анализа поликристаллов
Publishing Information
- Journal Title
- Metallovedenie i Termicheskaya Obrabotka Metallov
- Journal Issue
- no.8
- Journal Page Range
- p. 16-19
- ISSN
- 0026-0819
- CODEN
- MTOMAX
INIS
- Country of Publication
- Russian Federation
- Country of Input or Organization
- Russian Federation
- INIS RN
- 32019871
- Subject category
- S36: MATERIALS SCIENCE;
- Descriptors DEI
- COMPUTER CODES; DIFFRACTION METHODS; LATTICE PARAMETERS; LINE BROADENING; LINE WIDTHS; PHASE STUDIES; POLYCRYSTALS; STACKING FAULTS; STRESSES; X-RAY DIFFRACTION
- Descriptors DEC
- COHERENT SCATTERING; CRYSTAL DEFECTS; CRYSTAL STRUCTURE; CRYSTALS; DIFFRACTION; SCATTERING
Optional Information
- Notes
- 4 refs.