Published April 1977
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Journal article
On the influence of the sample topography in ion-induced X-ray emission analysis
Description
The topography of a sample is of decisive on the X-ray yield in ion-induced X-ray emission analysis. A model allowing to calculate this influence is described. Errors which may be obtained additionally in quantitative analysis of rough samples are estimated. Requirements of surface quality of the samples are derived from the results. (author)
Abstract (German)
Bei der Röntgenemissionsanalyse mit Ionen besitzt die Topographie der Probe einen entscheidenden Einfluβ auf die Röntgenausbeute. Es wird ein Modell beschrieben, das es gestattet, den Topographieeinfluβ mathematisch zu erfassen. Mit diesem Modell werden die Fehler abgeschätzt, die bei der quantitativen Analyse rauher Proben zusälzlich auftreten können. Daraus werden Forderungen an die Oberflächengüte der Proben abgeleitet. Keywords: errorsionsmathematical modelssurfacesquantitative chemical analysissample preparationX-ray emission analysisAdditional details
Additional titles
- Original title (German)
- Zum Einfluss der Probentopographie bei der Roentgenemmissionsanalyse mit Ionen
Identifiers
Publishing Information
- Journal Title
- Isotopenpraxis Isotopes in Environmental and Health Studies
- Journal Volume
- 13
- Journal Issue
- 4
- Series
- Isotopenpraxis.
- Journal Page Range
- 133-135
- ISSN
- 0021-1915
INIS
- Country of Publication
- German Democratic Republic
- Country of Input or Organization
- German Democratic Republic
- INIS RN
- 8323949
- Subject category
- S37: INORGANIC, ORGANIC, PHYSICAL AND ANALYTICAL CHEMISTRY;
- Descriptors DEI
- ERRORS; IONS; MATHEMATICAL MODELS; QUANTITATIVE CHEMICAL ANALYSIS; ROUGHNESS; SURFACES; X-RAY EMISSION ANALYSIS
- Descriptors DEC
- CHARGED PARTICLES; CHEMICAL ANALYSIS; NONDESTRUCTIVE ANALYSIS; SURFACE PROPERTIES
Optional Information
- Notes
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