Published January 2002 | Version v1
Journal article Metadata-only

Low-energy ion scattering: new developments and applications

Creators

  • 1. Tekhnologicheskij Univ., Ehjndkhoven (Netherlands)
  • 2. Inst. Fiziki Tverdogo Tela RAN, Chernogolovka (Russian Federation)

Description

One studied physical principles of low-energy ion scattering method and its application to analyze surface of wide spectrum of materials in contrast to other well-known methods of surface analysis. Paper contains the results of investigation into various materials, facilities and processes such as catalysis, adhesion, thermal emission cathodes, semi-conducting polymer base light-emitting diodes, high-melting metals. One demonstrates the unique properties of this method enabling to carry out qualitative analysis of the uppest atomic layer of the surface

Abstract (Russian)

Рассмотрены физические принципы метода рассеяния медленных ионов и его использования для анализа состава поверхности широкого спектра материалов по сравнению с другими известными методами анализа поверхности. Приведены результаты исследования различных материалов, устройств и процессов, таких как катализ, адгезия, термоэмисссионные катоды, светодиоды на основе полупроводниковых полимеров, тугоплавкие металлы. Показаны уникальные свойства этого метода, позволяющего проводить количественный анализ самого верхнего атомного слоя поверхности

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
Рассеяние медленных ионов: новые разработки и применения

Publishing Information

Journal Title
Izvestiya Akademii Nauk. Rossijskaya Akademiya Nauk. Seriya Fizicheskaya
Journal Volume
66
Journal Issue
1
Journal Page Range
p. 76-84
ISSN
1026-3489
CODEN
IRAFEO

Conference

Title
9. International workshop on ion beam surface diagnostics
Original Conference Title
9. Mezhdunarodnyj seminar: Diagnostika poverkhnosti ionnymi puchkami
Dates
3-7 Oct 2000
Place
Zaporozh'e (Ukraine)

INIS

Country of Publication
Russian Federation
Country of Input or Organization
Russian Federation
INIS RN
34014520
Subject category
S75: CONDENSED MATTER PHYSICS, SUPERCONDUCTIVITY AND SUPERFLUIDITY;
Resource subtype / Literary indicator
Conference
Descriptors DEI
ADHESION; BACKSCATTERING; CATALYSIS; CATHODES; HELIUM IONS; ION SCATTERING ANALYSIS; LIGHT EMITTING DIODES; NEON IONS; POLYMERS; REFRACTORIES; SURFACE PROPERTIES; THERMIONIC EMISSION
Descriptors DEC
CHARGED PARTICLES; CHEMICAL ANALYSIS; ELECTRODES; EMISSION; IONS; NONDESTRUCTIVE ANALYSIS; SCATTERING; SEMICONDUCTOR DEVICES; SEMICONDUCTOR DIODES

Optional Information

Notes
30 refs., 12 figs.