Published March 2000
| Version v1
Journal article
Automatic complex for studying the photoemission of polarized electrons
Creators
- 1. S.-Peterburgskij Gosudarstvennyj Tekhnicheskij Univ., S.-Peterburg (Russian Federation)
Description
The complex is intended for studying spectral dependences of the quantum yield and polarization degree of photoelectrons beam emitted from the semiconductor heterostructures by their irradiation by circularly polarized light within the range of wave lengths from 360 up to 1200 nm. The vector direction of the electron beam polarization may be changed to the opposite one without change in the basic electron-optical characteristics of the beam. Determination of the electrons polarization degree is accomplished by the Mott mini-detector. The complex is provided with a computerized control system. The electron beams with polarization up to 88 % are obtained at the photo cathodes room temperature
Abstract (Russian)
Комплекс предназначен для исследования спектральных зависимостей квантового выхода и степени поляризации пучка фотоэлектронов, эмитируемых из полупроводниковых гетероструктур при облучении их циркулярно поляризованным светом в диапазоне длин волн от 360 до 1200 нм. Направление вектора поляризации электронного пучка можно менять на противоположное без изменения основных электронно-оптических характеристик пучка. Определение степени поляризации электронов осуществляется мини-детектором Мотта. Комплекс имеет компьютерное управление. При комнатной температуре фотокатодов получены электронные пучки с поляризацией до 88 %Additional details
Additional titles
- Original title (Russian)
- Автоматизириванный комплекс для исследований фотоэмиссии поляризованных эелектронов
Publishing Information
- Journal Title
- Pribory i Tekhnika Ehksperimenta
- Journal Issue
- no.2
- Journal Page Range
- p. 105-112
- ISSN
- 0032-8162
- CODEN
- PRTEAJ
INIS
- Country of Publication
- Russian Federation
- Country of Input or Organization
- Russian Federation
- INIS RN
- 31037472
- Subject category
- S43: PARTICLE ACCELERATORS;
- Descriptors DEI
- COMPUTERIZED CONTROL SYSTEMS; ELECTRON BEAMS; ELECTRON SOURCES; FLOWSHEETS; HETEROJUNCTIONS; OPTICAL SYSTEMS; PHOTOCATHODES; PHOTOELECTRIC EMISSION; POLARIZED BEAMS; SPIN ORIENTATION; VACUUM SYSTEMS
- Descriptors DEC
- BEAMS; CATHODES; CONTROL SYSTEMS; DIAGRAMS; ELECTRODES; ELECTRON EMISSION; EMISSION; INFORMATION; LEPTON BEAMS; ON-LINE CONTROL SYSTEMS; ON-LINE SYSTEMS; ORIENTATION; PARTICLE BEAMS; PARTICLE SOURCES; PHOTOELECTRIC EFFECT; RADIATION SOURCES; SEMICONDUCTOR JUNCTIONS
Optional Information
- Notes
- 10 refs., 6 figs.