Published February 2005 | Version v1
Journal article

Diagnostics of inhomogeneity in distribution of recombination centers in silicon phototransducers by photocurrents spectra

  • 1. Moskovskij Gosudarstvennyj Univ. im. M.V. Lomonosova, Moscow (Russian Federation)
  • 2. Nauchno-Proizvodstvennoe Ob''edinenie Kvant, Moscow (Russian Federation)
  • 3. Inst. Yadernoj Fiziki im. D.V. Skobel'tsyna Moskovskogo Gosudarstvennogo Univ. im. M.V. Lomonosova, Moscow (Russian Federation)

Description

Spectral dependences of photocurrent of silicon phototransducers irradiated by average 1.6 MeV energy protons were measured within 1.1-1.6 eV photon energy range. One demonstrated possibility to determine a defective layer on the basis of the mentioned spectra, that was, to determine depth and average lifetime of minority carriers. By means of computer base simulation one istudied the relationship between defective layer parameters and layer depth determination accuracy

Abstract (Russian)

Спектральные зависимости фототока кремниевых фотопреобразователей, облученных протонами со средней энергией 1.6 МэВ, измерены в диапазоне энергий фотонов 1.1-1.6 эВ. Показана возможность определения по этим спектрам параметров дефектного слоя: толщины и среднего времени жизни неосновных носителей заряда. Путем компьютерного моделирования исследована зависимость между параметрами дефектного слоя и точностью определения его толщины

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
Диагностика неоднородности распределения рекомбинационных центров в кремниевых фотопреобразователях по спектрам фототока

Publishing Information

Journal Title
Izvestiya Akademii Nauk. Rossijskaya Akademiya Nauk. Seriya Fizicheskaya
Journal Volume
69
Journal Issue
2
Journal Page Range
p. 282-286
ISSN
1026-3489
CODEN
IRAFEO

Conference

Title
X-ray optics-2004 workshop
Original Conference Title
Soveshchanie Rentgenovskaya optika-2004
Dates
May 2004
Place
Nizhnij Novgorod (Russian Federation)

Optional Information

Notes
14 refs., 3 figs., 1 tab.