Published April 1999
| Version v1
Journal article
Crystal structures, interatomic distances, and x-ray spectra of the compounds RM2Si2, R2M3Si5 and RMSi3 (R - Sc, Y, Ln; M - transition metal)
Creators
- 1. L'vovskij Gosudarstvennyj Univ., L'vov (Ukraine)
- 2. Gosudarstvennyj Univ. L'vovskaya Politekhnika, L'vov (Ukraine)
Description
Analysis of interatomic distances M-M, M-Si, M-R and Si-R in the RM2Si2, R2M3Si5 and RMSi3 compounds is carried out. It is shown, that there exists connection between the values of these interatomic distances and the structure of these compounds and also the M and Si content therein.The roentgen emission spectra of the YNi2Si2 and YNiSi3 compounds are studied. Intensification of the Si-Si bonds in the series of the YNi2Si2-YNi3Si5-YNiSi3 compounds is established
Abstract (Russian)
Проведен анализ межатомных расстояний М-М, М-Si, M-R и Si-R в соединениях RM2Si2, R2M3Si5 и RMSi3. Показано, что существует связь между величинами этих межатомных расстояний и структурой данных соединений, а также содержанием М и Si в них. Изучены рентгеновские эмиссионные спектры соединений YNi2Si2 и YNiSi3. Установлено усиление связей Si-Si в ряду соединений YNi2Si2-YNi3Si5-YNiSi3Additional details
Additional titles
- Original title (Russian)
- Кристаллические структуры, межатомные расстояния и рентгеновские спектры соединений RM
Publishing Information
- Journal Title
- Neorganicheskie Materialy
- Journal Volume
- 35
- Journal Issue
- 4
- Journal Page Range
- p. 448-455
- ISSN
- 0002-337X
- CODEN
- NEOMB8
INIS
- Country of Publication
- Russian Federation
- Country of Input or Organization
- Russian Federation
- INIS RN
- 31035267
- Subject category
- S36: MATERIALS SCIENCE;
- Descriptors DEI
- CHEMICAL BONDS; CRYSTAL STRUCTURE; ENERGY-LEVEL DENSITY; INTERATOMIC DISTANCES; INTERMETALLIC COMPOUNDS; NICKEL ALLOYS; SILICIDES; X-RAY SPECTRA; YTTRIUM ALLOYS
- Descriptors DEC
- ALLOYS; DISTANCE; SILICON COMPOUNDS; SPECTRA; TRANSITION ELEMENT ALLOYS
Optional Information
- Notes
- 17 refs., 7 figs., 3 tabs.