Published February 2006
| Version v1
Journal article
Analysis of the spectra of X-ray resonant magnetic scattering from magnetic multilayers
Creators
- 1. Moskovskij Gosudarstvennyj Univ. im. M.V. Lomonosova, Fizicheskij Fakul'tet, Moscow (Russian Federation)
Description
Problems in the interpretation of the spectra of X-ray resonant magnetic reflection are considered for the depth selective investigations of the magnetic moment of resonant element. The possibility of optical and magnetic parameters determinations from the integrated characteristics of Bragg reflection of periodic multilayers is demonstrated. Model calculations have shown the depth selectivity of the method across the bilayer period
Abstract (Russian)
Рассмотрены проблемы интерпретации спектров рентгеновского резонансного магнитного отражения и применения к селективным по глубине исследованиям магнитного момента резонансного элемента. Проанализирована возможность определения оптических и магнитных свойств из интегральных характеристик брэгговского резонансного отражения от периодических многослойных пленок. Модельные расчеты демонстрируют селективность метода по глубине бислояAdditional details
Additional titles
- Original title (Russian)
- Анализ спектров резонансного магнитного рассеяния рентгеновских лучей от магнитных многослойных структур
Publishing Information
- Journal Title
- Poverkhnost'. Rentgenovskie, Sinkhrotronnye i Nejtronnye Issledovaniya
- Journal Issue
- no.2
- Journal Page Range
- p. 83-88
- ISSN
- 1028-0960
Conference
- Title
- Symposium Nanophysics and nanoelectronics
- Original Conference Title
- Simpozium Nanofizika i nanoehlektronika
- Dates
- 25-29 Mar 2005
- Place
- Nizhnij Novgorod (Russian Federation)
INIS
- Country of Publication
- Russian Federation
- Country of Input or Organization
- Russian Federation
- INIS RN
- 38055957
- Subject category
- S75: CONDENSED MATTER PHYSICS, SUPERCONDUCTIVITY AND SUPERFLUIDITY;
- Resource subtype / Literary indicator
- Conference
- Descriptors DEI
- BRAGG REFLECTION; FILMS; MAGNETIC FIELDS; MAGNETIC MOMENTS; PARAMETRIC ANALYSIS; POLARIZATION; RESONANCE SCATTERING; SPECTRA UNFOLDING; SPECTRAL DENSITY; X-RAY SPECTRA
- Descriptors DEC
- DATA PROCESSING; FUNCTIONS; INELASTIC SCATTERING; PROCESSING; REFLECTION; SCATTERING; SPECTRA; SPECTRAL FUNCTIONS
Optional Information
- Notes
- 23 refs., 5 figs.