Published 1978 | Version v1
Journal article

Detection of minimum ionizing particles through secondary electron emission

  • 1. CEA Centre d'Etudes Nucleaires de Saclay, 91 - Gif-sur-Yvette (France). Dept. de Physique Nucleaire

Description

The use of secondary electron emission to detect high energy particles is investigated. Low density KCl layers have been tested to detect MeV electrons, 500 MeV proton and high energy deuterons and tritons. The efficiency and the secondary electron spectra are presented. The results justify the use of low-density KCl layer to detect minimum ionizing particles. Actually the timing resolution for different KCl thicknesses is lower than 250 ps

Abstract (French)

L'emission d'electrons secondaires comme moyen de detection des particules de haute energie est employee. Des cibles de chlorure de potassium poreux ont ete testees avec des protons d'energie superieure a 400 MeV ainsi qu'avec des deutons et tritons de haute energie. Les efficacites et les spectres d'electrons secondaires emis sont presentes. Des mesures de temps obtenues avec ces cibles associees a des galettes de microcanaux sont presentees. Les resultats justifient l'emploi de ces cibles poreuses pour la detection des particules au minimum d'ionisation

Additional details

Additional titles

Original title (French)
Detection de particules au minimum d'ionisation par emission d'electrons secondaires

Publishing Information

Journal Title
J. Phys. (Paris), Colloq.
Journal Issue
no.3
Series
J. Phys. (Paris), Colloq.

Conference

Title
Congress of the French Physical Society.
Dates
27 Jun - 1 Jul 1977.
Place
Poitiers, France.