Published July 2005 | Version v1
Journal article Metadata-only

Layer thickness effect on magnetic properties and structural state of terbium in [Tb/Ti]n and [Tb/Si]n multilayer films

Creators

  • 1. Ural'skij Gosudarstvennyj Univ. im. A.M. Gor'kogo, Ekaterinburg (Russian Federation)
  • 2. Univ. Oviedo, Oviedo (Spain)

Description

One presents the results of the experimental investigations into three-dimensional and surface structures and magnetic properties of Tb layers within [Tb/Ti]n and [Tb/Si]n multilayer films. It is determined that Tb amorphization takes place as the depth of magnetic layers decreases. It is followed by reduction of the magnetic ordering temperature and by the shift of the magnetic hysteresis temperature interval demonstrating break of the crystalline magnetic anisotropy. Material of nonmagnetic interlayers separating Tb layers plays a certain part in the mentioned changes

Abstract (Russian)

Представлены результаты экспериментальных исследований объемной и поверхностной структур и магнитных свойств слоев Tb в составе многослойных пленок [Tb/Ti]n и [Tb/Si]n. Установлено, что с уменьшением толщины магнитных слоев происходит аморфизация Tb. Она сопровождается снижением температуры магнитного упорядочения и смещением температурного интервала магнитного гистерезиса, что свидетельствует о разрушении кристаллической магнитной анизотропии. Определенную роль в этих изменениях играет материал немагнитных прослоек, разделяющих слои Tb

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
Влияние толщины слоев на магнитные свойства и структурное состояние тербия в составе многослойных пленок [Тб/Ти]

Publishing Information

Journal Title
Zhurnal Tekhnicheskoj Fiziki
Journal Volume
75
Journal Issue
7
Journal Page Range
p. 97-100
ISSN
0044-4642
CODEN
ZTEFA3

INIS

Country of Publication
Russian Federation
Country of Input or Organization
Russian Federation
INIS RN
38015584
Subject category
S36: MATERIALS SCIENCE;
Descriptors DEI
AMORPHOUS STATE; ANISOTROPY; LAYERS; MAGNETIC PROPERTIES; MICROSTRUCTURE; SILICON; TERBIUM; THICKNESS; THIN FILMS; TITANIUM
Descriptors DEC
DIMENSIONS; ELEMENTS; FILMS; METALS; PHYSICAL PROPERTIES; RARE EARTHS; SEMIMETALS; TRANSITION ELEMENTS

Optional Information

Notes
12 refs., 4 figs.