Published March 2003 | Version v1
Journal article

Structural analysis of boron enriched layers on soft steel surface before and after electron-beam irradiation

  • 1. Moskovskij Gosudarstvennyj Univ. im. M.V. Lomonosova, Fizicheskij Fakul'tet, Moscow (Russian Federation)
  • 2. Vostochno-Sibirskij Gosudarstvennyj Tekhnologicheskij Univ., Ulan-Udeh (Russian Federation)
  • 3. Moskovskij Gosudarstvennyj Tekhnicheskij Univ. im. N.Eh. Baumana, Moscow (Russian Federation)

Description

Methods of depth-selective Moessbauer spectroscopy, metallography, electron microscopy and microhardness measurements are applied to perform structural analysis of a low carbon steel St.3 specimen, subjected to solid-phase boriding with subsequent electron beam irradiation for 10 s. The results obtained testify that even with such short-acting irradiation by a powerful electron flux (radiation dose ∼ 1018 puls./cm2) a sharp change of surface boride layer morphology occurs due to radiation-induced boron atom diffusion into the bulk of the specimen

Abstract (Russian)

Методами селективной по глубине мессбауэровской спектроскопии, электронной микроскопии и изменений микротвердости проведен структурный анализ образца низкоуглеродистой стали Ст3, подвергнутого твердофазному борированию и последующему электронно-лучевому воздействию в течение 10 с. Полученные результаты демонстрируют, что даже такое кратковременное облучение мощным электронным потоком (доза облучения ∼ 1018 имп./см2) приводит к резкому изменению морфологии поверхностного боридного слоя за счет радиационно-стимулированной диффузии атомов бора в глубь массива образца

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
Структурный анализ борированных слоев на поверхности малоуглеродистой стали до и после электронно-лучевой обработки

Publishing Information

Journal Title
Poverkhnost'. Rentgenovskie, Sinkhrotronnye i Nejtronnye Issledovaniya
Journal Issue
no.3
Journal Page Range
p. 99-103
ISSN
1028-0960

Conference

Title
19. Russian conference on scanning electron microscopy and analytical methods of analysis of solid
Original Conference Title
XIX Rossijskaya konferentsiya po rastrovoj ehlektronnoj mikroskopii i analiticheskim metodam issledovaniya tverdykh tel
Dates
4-6 Jun 2002
Place
Chernogolovka (Russian Federation)

Optional Information

Notes
10 refs., 5 figs.