Published February 2005
| Version v1
Journal article
Dynamic X-ray diffraction on a superlattice with various electron density in layers
Creators
- 1. Kabardino-Balkarskij Gosudarstvennyj Univ., Nal'chik (Russian Federation)
Description
Generalization of a formalism of zone diagrams for description of dynamic X-ray diffraction in superlattices with variable electron density in layers is considered. Such generalization is possible if deformation and electron density vary according to similar law. The new characteristic - the generalized parameter of coherence - is introduced, and its influence on a kind of a X-ray diffractive reflection curve is discussed
Abstract (Russian)
Рассмотрено обобщение формализма зонных диаграмм для описания динамической рентгеновской дифракции в сверхрешетках с переменной электронной плотностью. Такое обобщение возможно, если деформация и электронная плотность меняются по одному закону. Вводится новая характеристика (обобщенный параметр когерентности) и обсуждается ее влияние на вид кривой дифракционного отраженияAdditional details
Additional titles
- Original title (Russian)
- Динамическая рентгеновская дифракция в эпитаксиальной сверхрешетке с различной электронной плотностью в слоях
Publishing Information
- Journal Title
- Poverkhnost'. Rentgenovskie, Sinkhrotronnye i Nejtronnye Issledovaniya
- Journal Issue
- no.2
- Journal Page Range
- p. 59-63
- ISSN
- 1028-0960
INIS
- Country of Publication
- Russian Federation
- Country of Input or Organization
- Russian Federation
- INIS RN
- 38011492
- Subject category
- S75: CONDENSED MATTER PHYSICS, SUPERCONDUCTIVITY AND SUPERFLUIDITY;
- Descriptors DEI
- DEFORMATION; ELECTRON DENSITY; EPITAXY; LAYERS; PARAMETRIC ANALYSIS; SUPERLATTICES; X-RAY DIFFRACTION
- Descriptors DEC
- COHERENT SCATTERING; CRYSTAL GROWTH METHODS; DIFFRACTION; SCATTERING
Optional Information
- Notes
- 5 refs.