Published February 2005 | Version v1
Journal article

Using the multilayer structures for background determination during absolute measurements of the absorption sections in the region of the X spectra fine structure

  • 1. Syktyvkarskij Gosudarstvennyj Univ., Syktyvkar (Russian Federation)
  • 2. Inst. Fiziki Sankt-Peterburgskogo Gosudarstvennogo Univ., Petergof (Russian Federation)

Description

The problem of absolute section of absorption section in ultrasoft range of X-ray spectra was considered. The method of immediate measurement of scattering nonmonochromic background in continuous radiation was described and its justification with help of application of two-layer reflected coatings was carried

Abstract (Russian)

Рассмотрена проблема абсолютных измерений сечений поглощения в ультрамягкой рентгеновской области спектра. Описана методика непосредственного измерения рассеянного немонохроматического фона в непрерывном излучении и проведено ее обоснование с помощью применения двухслойных отражающих покрытий

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
Применение многослойных структур для определения фона при абсолютных измерениях сечений поглощения в области тонкой структуры рентгеновских спектров

Publishing Information

Journal Title
Poverkhnost'. Rentgenovskie, Sinkhrotronnye i Nejtronnye Issledovaniya
Journal Issue
no.2
Journal Page Range
p. 103-108
ISSN
1028-0960

Optional Information

Notes
10 refs., 5 figs.