Published June 2005 | Version v1
Journal article Metadata-only

Ion-optical scheme for high-sensitive portable mass spectrograph

Creators

  • 1. RAN, Fiziko-Tekhnicheskij Inst. im. A.F. Ioffe, Sankt-Peterburg (Russian Federation)

Description

One studied ion-optical scheme enabling to increase essentially sensitivity and quick-response of mass spectrograph due to choice of parameters of electrostatic spherical condenser and shape of magnetic lens boundaries in combination with original multichannel linear segment detector. One carried out both calculation and numerical simulation of the detector. One showed possibility to measure quickly multicomponent mixtures within mass wide range at essential increase of dynamic range of the recorded signal. One tested experimentally the basic characteristics of mass analyzer based on the described scheme

Abstract (Russian)

Рассмотрена ионно-оптическая схема, позволяющая за счет выбора параметров электростатического сферического кондесатора и формы границ магнитной линзы в сочетании с оригинальным многоканальным линейным сегментным детектором существенно увеличить чувствительность и быстродействие масс-спектрографа. Проведен расчет и численное моделирование детектора. Показана возможность осуществления быстрых измерений многокомпонентных смесей в широком диапазоне масс при существенном увеличении динамического диапазона регистрируемого сигнала. Проведена экспериментальная проверка основных характеристик масс-анализатора, созданного по предложенной схеме

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
Ионно-оптическая схема для высокочувствительного, портативного масс-спектрографа

Publishing Information

Journal Title
Zhurnal Tekhnicheskoj Fiziki
Journal Volume
75
Journal Issue
6
Journal Page Range
p. 121-125
ISSN
0044-4642
CODEN
ZTEFA3

INIS

Country of Publication
Russian Federation
Country of Input or Organization
Russian Federation
INIS RN
37104293
Subject category
S46: INSTRUMENTATION RELATED TO NUCLEAR SCIENCE AND TECHNOLOGY;
Descriptors DEI
COMPUTERIZED SIMULATION; ELECTROSTATIC LENSES; FLOWSHEETS; FOCUSING; ION BEAMS; MASS SPECTROMETERS; MICROCHANNEL ELECTRON MULTIPLIERS; PERFORMANCE TESTING; PORTABLE EQUIPMENT; SENSITIVITY
Descriptors DEC
BEAMS; DIAGRAMS; ELECTRON MULTIPLIERS; ELECTRON TUBES; EQUIPMENT; INFORMATION; LENSES; MEASURING INSTRUMENTS; SIMULATION; SPECTROMETERS; TESTING

Optional Information

Notes
7 refs., 4 figs.