Published 2000 | Version v1
Journal article Metadata-only

Choice of energies in gamma-absorption method for layers thickness measuring of two-layers articles

Creators

  • 1. Tomskaya Gosudarstvennaya Arkhitekturno-Stroitel'naya Akademiya, Tomsk (Russian Federation)

Description

Empirical formulae are proposed for the description of relation between optimum energies minimizing the mean-weighted error of gamma absorption measurement of the thickness of layers in two-layer products with the thickness of every layer from 30 up to 150 mm by carbon. Error of informational parameter approximation with the application of tables does not exceed 10% in case of non-accurate assessment of layers thickness not exceeding 2.5%. Generalized equation is derived which binds main parameters of the task and permits to choose optimum energies with the accuracy sufficient for practical purposes

Abstract (Russian)

Предложены эмпирические формулы для описания связи оптимальных энергий, минимизирующих средневзвешенную погрешность гамма-абсорбционного измерения толщин слоев двухслойных изделий с толщиной каждого из слоев от 30 до 150 мм по углероду. Погрешность аппроксимации информационного параметра с применением таблиц не превосходит 10% при неточности в оценке погрешности толщины слоев, не большей 2,5%. Выведено обобщающее уравнение, связывающее основные параметры задачи и позволяющее выбрать оптимальные энергии с достаточной для практических целей точностью

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
Выбор энергий в гамма-абсорбционном методе измерения толщины слоев двухслойных изделий

Publishing Information

Journal Title
Defektoskopiya
Journal Issue
no.10
Journal Page Range
p. 83-90
ISSN
0130-3082
CODEN
DEFKAG

INIS

Country of Publication
Russian Federation
Country of Input or Organization
Russian Federation
INIS RN
33016933
Subject category
S07: ISOTOPES AND RADIATION SOURCES;
Descriptors DEI
ABSORPTION SPECTROSCOPY; ALGORITHMS; CORRECTIONS; ENERGY DEPENDENCE; EQUATIONS; ERRORS; GAMMA SPECTROSCOPY; KEV RANGE 10-100; KEV RANGE 100-1000; LAYERS; MEV RANGE 01-10; MEV RANGE 10-100; NONDESTRUCTIVE TESTING; OPTIMIZATION; THICKNESS
Descriptors DEC
DIMENSIONS; ENERGY RANGE; KEV RANGE; MATERIALS TESTING; MATHEMATICAL LOGIC; MEV RANGE; SPECTROSCOPY; TESTING

Optional Information

Notes
8 refs.; 2 tabs.; 1 fig.