Published March 7, 1980 | Version v1
Patent

System for detection and defect classification of metallic surfaces

Description

Detection and surface defect classification particularly for nuclear fuel rods and steam generators, where the surface is run through an electromagnetic field, two probes detect the reflected radiation during the scanning to create signals divided in series and combined to create an average which is analyzed for defect classification

Availability note (English)

Available from Institut National de la Propriete Industrielle, Paris (France).

Abstract (French)

Systeme de detection et de classification des defauts de surface, en particulier pour les tubes de combustible, dans lequel on fait passer la surface devant une source de radiation electromagnetique avec au moins un premier et un second capteurs destines a detecter la radiation reflechie par la surface pendant le balayage repete suivant des lignes de balayage de longueur predeterminee, pour creer des signaux de type serie pour chaque balayage qui sont divises en plusieurs echantillons et combines, pour creer un ensemble de moyennes dynamiques liees a la position, ces signaux sont compares et un analyseur cree un troisieme signal indiquant la classification des criques ou plus generalement des defauts en fonction du premier et du second signal

Additional details

Additional titles

Original title (French)
Systeme de detection et de classification des criques de surfaces metalliques

Publishing Information

Imprint Pagination
17 p.
IPC:
Int. Cl. G01n21/89; G21c17/00.
IPC
Int. Cl. G01n21/89; G21c17/00.
Patent number
FR patent document 2433179/A/

INIS

Country of Publication
France
Country of Input or Organization
France
INIS RN
11565869
Subject category
S42: ENGINEERING;
Resource subtype / Literary indicator
Non-conventional Literature
Descriptors DEI
ALLOYS; DEFECTS; ELECTROMAGNETIC TESTING; METALS; SURFACES; TUBES
Descriptors DEC
ELEMENTS; MATERIALS TESTING; NONDESTRUCTIVE TESTING; TESTING

Optional Information

Notes
Priority claim: 9 Aug 1978, US.