Published September 2003 | Version v1
Journal article

Kinetics of point defects and processes of amorphous state rendering in thin films under irradiation

  • 1. RAN, Inst. Problem Mashinovedeniya, Sankt-Peterburg (Russian Federation)

Description

Theoretical model for describing the evolution of point defects ensemble (vacancies and internodal atoms) and its effect on processes of the solid phase amorphization in the irradiated crystalline thin films is suggested. Equations of point defects kinetics in the irradiated thin films in case of the absence of ion implantation are proposed. Calculation of temperature dependence of the amorphization start dose which is compared with the corresponding experimental data, is carried out by means of numerical solution of given kinetic equation

Abstract (Russian)

Предложена теоретическая модель для описания эволюции ансамбля точечных дефектов (вакансий и межузельных атомов) и ее влияния на процессы твердофазной аморфизации в облучаемых кристаллических тонких пленках. Предлагаются уравнения кинетики точечных дефектов в облучаемых тонких пленках в случае отсутствия ионной имплантации. С помощью численного решения данного кинетического уравнения проведен расчет температурной зависимости дозы начала аморфизации, которая сравнивается с соответствующими экспериментальными данными

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
Кинетика точечных дефектов и процессы аморфизации в тонких пленках при облучении

Publishing Information

Journal Title
Fizika Tverdogo Tela
Journal Volume
45
Journal Issue
9
Journal Page Range
p. 1600-1602
ISSN
0367-3294
CODEN
FTVTAC

Optional Information

Notes
21 refs., 3 figs.