Published 1989
| Version v1
Miscellaneous
A novel imaging technique using the Compton scattering
Creators
Description
The ComScan-technique uses the Compton scattering radiation, which actually is an unwanted phenomenon in imaging processes. The technique's principle is to measure the backward scattered Compton radiation induced in the material by means of scintillator crystals placed in a probe, and the measuring principle is that of a pinhole camera, which yields information on defect depths. The author gives examples of testing results. (DG)
Availability note (English)
Available from Deutsche Gesellschaft fuer Zerstoerungsfreie Pruefung e.V., Berlin (Germany, F.R.). Fachausschuss Durchstrahlungspruefung und Strahlenschutz.Abstract (German)
Bei dem ComScan-Abbildungsverfahren wird die sonst stoerende Streustrahlung zur Bildgebung genutzt. Das Prinzip basiert auf einer Messung der im Material erzeugten rueckwaerts gerichteten Compton-Streustrahlung. Diese wird von in einem Messkopf angebrachten Szintillatorkristallen gemessen und zwar nach dem Prinzip der Lochkamera, die eine Fehlertiefeninformation ermoeglicht. Pruefbeispiele werden aufgefuehrt. (DG)Additional details
Additional titles
- Original title (German)
- Ein neues Abbildungsverfahren mit Hilfe der Compton-Streuung
Publishing Information
- Imprint Title
- Current topics of industrial radiography and radiation protection
- Imprint Pagination
- 83 p.
- Journal Volume
- 16
- Series
- Deutsche Gesellschaft fuer Zerstoerungsfreie Pruefung e.V. Berichtsband.
- Journal Page Range
- p. 34-42.
Conference
- Title
- 5. seminar on current topics of industrial radiography and radiation protection.
- Original Conference Title
- 5. Seminar ueber Aktuelle Fragen der Durchstrahlungspruefung und des Strahlenschutzes
- Dates
- 31 Jan 1989.
- Place
- Dortmund (Germany, F.R.).
INIS
- Country of Publication
- Germany
- Country of Input or Organization
- Germany
- INIS RN
- 22038097
- Subject category
- S42: ENGINEERING;
- Resource subtype / Literary indicator
- Conference, Non-conventional Literature
- Descriptors DEI
- ALUMINIUM; BACKSCATTERING; COMPTON SCATTERING TOMOGRAPHY; INDUSTRIAL RADIOGRAPHY; IRON; POLYETHYLENES; X-RAY RADIOGRAPHY
- Descriptors DEC
- ELEMENTS; MATERIALS TESTING; METALS; NONDESTRUCTIVE TESTING; ORGANIC COMPOUNDS; ORGANIC POLYMERS; POLYMERS; POLYOLEFINS; SCATTERING; TESTING; TOMOGRAPHY; TRANSITION ELEMENTS
Optional Information
- Notes
- Imprint:Aktuelle Fragen der Durchstrahlungspruefung und des Strahlenschutzes.;Vortraege.