Published February 2001 | Version v1
Journal article

Theoretical calculation of the powder X-ray diffraction from the object thin film - substrate

  • 1. Omskij Gosudarstvennyj Univ., Omsk (Russian Federation)

Description

A method of calculating theoretical crystallograms obtained from the coated samples is proposed. The algorithm of calculation which takes into account the multiphase character of the object and anisotropy of the absorption coefficient attributed to the coating is presented. A possibility of application of the method to optimization of surveying of the real object covered with a film of known composition, structure and thickness is shown. The software thus developed can be used for approximate evaluation of the thickness of the real object

Abstract (Russian)

Создана методика для расчета теоретических дифрактограмм от образцов с покрытием. Приводится алгоритм расчетов и описание программ, учитывающих многофазность образца и анизотропию коэффициента поглощения, даваемую покрытием. Показаны возможности применения данной методики для выбора оптимальных условий съемки реального образца с покрытием известных состава и структуры и известной толщины покрытия. Возможно также использование этих программ для приблизительного определения толщины покрытия реальных образцов

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
Теоретический расчет порошковой рентгеновской дифракции от об

Publishing Information

Journal Title
Zavodskaya Laboratoriya
Journal Volume
67
Journal Issue
2
Journal Page Range
p. 26-30
ISSN
0321-4265
CODEN
ZVDLAU

Optional Information

Notes
8 refs., 3 figs.