Published 1988 | Version v1
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Radiation effects, trapped particles, solar events and cosmic rays on electronic components

Description

The first part of this paper concerns the main characteristics of the radiation environment (trapped p+ and e-, heavy ions and p+ from solar events, galactic cosmic rays..). Then interaction with matter, slowing down, stopping power, range projected range and method used for the dose and shielding computation are described as well as characteristic results. The last part concerns heavy ions effects (single event upset and latch-up), computation and simulation methods and results

Availability note (English)

MF available from INIS under the Report Number.

Abstract (French)

Dans cet expose on rappelle d'abord les principales caracteristiques des flux de radiations (p+ et e- pieges, particules d'eruptions solaires, ions lourds du rayonnement cosmique) rencontrees dans l'espace. On decrit ensuite les principaux modes d'interactions avec la matiere, le ralentissement des particules (pouvoir d'arret - parcours - portee) et les effets sur les materiaux. La methode de calcul des doses et de blindage est ensuite indiquee ainsi que des exemples de resultats. Dans une derniere partie sont decrits les effets des ions lourds sur les circuits integres (upset et latch-up) une methode de calcul des taux d'evenements singuliers ainsi que les moyens de tests utilisables

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Original title (French)
Effet des radiations particules piegees, eruptions solaires et rayonnement cosmique sur les composants electroniques

Publishing Information

Imprint Pagination
94 p.
Report number
FRNC-R--323