Published November 2000 | Version v1
Journal article

Quasi-localized states and peculiarities of resonance scattering of particles on defects in semiconductor crystals with band structure of energy spectrum

  • 1. Belgorodskij Gosudarstvennyj Univ., Belgorod (Russian Federation)

Description

Peculiarities of the particle-plane defect interaction in semiconductor crystals are investigated within the framework of the band energy spectrum. It is shown that generalized localized states exist at defects. In the system under consideration a non-square energy-momentum interrelationship leads to quasi-localized state appearance. Peculiarities of the particle scattering at semiconductor interfaces are analyzed. The total reflection phenomenon may occur if the coincidence of the incident particle energy and the quasi-localized state energy takes place. It is found that a weak dissipation of the particle energy in the crystal leads to the instability of the resonance condition of the total reflection

Abstract (Russian)

Изучены особенности взаимодействия частиц с плоским дефектом в полупроводниковом кристалле на основе модели зонного энергетического спектра. Показано, что вблизи дефекта существуют обобщенные локализованные состояния. Неквадратичность закона дисперсии в рассматриваемой системе приводит к появлению квазилокальных состояний. Проанализированы особенности рассеяния частиц на границе раздела полупроводниковых кристаллов. Полное отражение от границы раздела возможно при условии, когда энергия налетающей частицы совпадает с энергией квазилокального состояния. Установлено, что слабая диссипация энергии частиц в кристалле приводит к неустойчивости резонансного условия полного отражения

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
Квазилокальные состояния и особенности резонансного рассеяния частиц дефектами в полупроводниковых кристаллах, обладающих зонной структурой энергетического спектра

Publishing Information

Journal Title
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov
Journal Volume
34
Journal Issue
11
Journal Page Range
p. 1333-1338
ISSN
0015-3222
CODEN
FTPPA4

Optional Information

Notes
14 refs., 2 figs.