Simulation of copper clusters ion sputtering from graphite single crystal surface
Creators
- 1. Donetskij Natsional'nyj Univ., Donetsk (Ukraine)
- 2. Technische Fakultaet, Christian-Albrechts-Univ., Kiel (Germany)
- 3. Inst. fuer Allgemeine Physik, Technische Univ. Wien, Wien (Austria)
- 4. Zaporozhskij Natsional'nyj Tekhnicheskij Univ., Zaporozh'e (Ukraine)
Description
The molecular-dynamic simulation of sputtering the clusters, consisting of 13 and 75 Cu atoms, from the graphite (0001) surface through the Ar ions with the energy of 200 eV, is carried out. The angular distributions of the copper sputtered atoms, their energies and sputtering coefficients values are discussed. The existence of at least two mechanisms of the clusters sputtering is established. One mechanism is a typically cascade-recoil one, leading to the atoms sputtering, primarily with the low and average energies (up to 8 eV). The other mechanism is a high-energy one, leading to sputtering the atoms with the energies up to 30 eV by large polar angles. Significant role thereby is played by the interaction of the Cu sputtered atoms with the sublayer surface atoms
Abstract (Russian)
Выполнено молекулярно-динамическое моделирование распыления кластеров, состоящих из 13 и 75 атомов Cu, с поверхности графита (0001) ионами Ar с энергией 200 эВ. Обсуждаются угловые распределения распыленных атомов меди, их энергии и значения коэффициентов распыления. Установлено существование по крайней мере двух механизмов распыления кластеров. Один механизм - типично каскадно-рекойловый, приводящий к распылению атомов, преимущественно с низкими и средними энергиями (до 8 эВ). Другой механизм - высокоэнергетический, ведущий к распылению атомов с энергиями до 30 эВ при больших полярных углах. Значительную роль при этом играет взаимодействие распыленных атомов Cu с поверхностными атомами подложкиAdditional details
Additional titles
- Original title (Russian)
- Моделирование ионного распыления кластеров меди с поверхности монокристалла графита
Publishing Information
- Journal Title
- Pis'ma v Zhurnal Tekhnicheskoj Fiziki
- Journal Volume
- 29
- Journal Issue
- 22
- Journal Page Range
- p. 33-38
- ISSN
- 0320-0116
- CODEN
- PZTFDD
INIS
- Country of Publication
- Russian Federation
- Country of Input or Organization
- Russian Federation
- INIS RN
- 36051954
- Subject category
- S36: MATERIALS SCIENCE;
- Descriptors DEI
- ANGULAR DISTRIBUTION; ARGON IONS; COPPER; EV RANGE 100-1000; GRAPHITE; ION BEAMS; MOLECULAR DYNAMICS METHOD; MONOCRYSTALS; PHYSICAL RADIATION EFFECTS; SIMULATION; SOLID CLUSTERS; SPUTTERING; SURFACES
- Descriptors DEC
- BEAMS; CALCULATION METHODS; CARBON; CHARGED PARTICLES; CRYSTALS; DISTRIBUTION; ELEMENTS; ENERGY RANGE; EV RANGE; IONS; METALS; MINERALS; NONMETALS; RADIATION EFFECTS; TRANSITION ELEMENTS
Optional Information
- Notes
- 7 refs., 2 figs.