Published 2015 | Version v1
Miscellaneous Metadata-only

Beam test data analysis and resolution studies for the Belle II Silicon Vertex Detector

Creators

  • 1. HEPHY, ÖAW, Nikolsdorfer Gasse 18, AT-1050 Wien (Austria)

Description

no abstract available

Part of:
Joint Annual Meeting of the Austrian Physical Society and the Swiss Physical Society together with the Austrian and Swiss Societies for Astronomy and Astrophysics

Additional details

Additional titles

Original title (English)
Gemeinsame Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft und der Schweizerischen Physikalischen Gesellschaft zusammen mit den Österreichischen und der Schweizerischen Gesellschaften für Astronomie und Astrophysik

Identifiers

URL
https://www.oepg.at/index.php?page=meetings&subpage=abstracts&lang=de;

Publishing Information

Publisher
Austrian Physical Society
Imprint Place
Vienna (Austria)
Imprint Title
Joint Annual Meeting of the Austrian Physical Society and the Swiss Physical Society together with the Austrian and Swiss Societies for Astronomy and Astrophysics
Imprint Pagination
116 p.
Journal Page Range
p. 65

Conference

Title
Joint Annual Meeting of the Austrian Physical Society and the Swiss Physical Society together with the Austrian and Swiss Societies for Astronomy and Astrophysics
Original Conference Title
Gemeinsame Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft und der Schweizerischen Physikalischen Gesellschaft zusammen mit den Österreichischen und der Schweizerischen Gesellschaften für Astronomie und Astrophysik
Dates
1-4 Sep 2015
Place
Vienna (Austria)

INIS

Country of Publication
Austria
Country of Input or Organization
Austria
INIS RN
47089068
Subject category
S46: INSTRUMENTATION RELATED TO NUCLEAR SCIENCE AND TECHNOLOGY;
Resource subtype / Literary indicator
No Abstract, Conference, Non-conventional Literature
Descriptors DEI
ACCELERATORS; CERN; DATA ANALYSIS; KEK; PARTICLE TRACKS; READOUT SYSTEMS; RESOLUTION; SENSORS; SI SEMICONDUCTOR DETECTORS; TELESCOPES
Descriptors DEC
DATA PROCESSING; INTERNATIONAL ORGANIZATIONS; JAPANESE ORGANIZATIONS; MEASURING INSTRUMENTS; NATIONAL ORGANIZATIONS; PROCESSING; RADIATION DETECTORS; SEMICONDUCTOR DETECTORS

Optional Information

Notes
Imprint:Gemeinsame Jahrestagung der #Latin Capital Letter O With Diaeresis#sterreichischen Physikalischen Gesellschaft und der Schweizerischen Physikalischen Gesellschaft zusammen mit den #Latin Capital Letter O With Diaeresis#sterreichischen und der Schweizerischen Gesellschaften f#Latin Small Letter U With Diaeresis#r Astronomie und Astrophysik