Published February 2003
| Version v1
Journal article
On the theory of X-ray reflection by multilayer mirrors. II. Exactly solved models of transition layer
Creators
- 1. Inst. Kristallografii im. A.V. Shubnikova RAN, Moscow (Russian Federation)
- 2. Rossijskij Nauchnyj Tsentr Kurchatovskij Inst., Moscow (Russian Federation)
Description
Analysis of exact solutions for the decreasing factors in the parameters of reflection and transition is presented for the two models of transition layer: the Fermi step and the linear transition layer. The factors take into account roughness of interfaces and are used in calculation of X-ray reflectivity by multilayer mirrors by means of recurrent relations. It is shown that the exact solutions for both models and for the linear in the roughness parameter approximation are equivalent to the Nevot-Croce formulae and the solution obtained in the distorted wave Born approximation
Abstract (Russian)
Представлен анализ точных решений для ослабляющих множителей в параметрах отражения и прохождения, учитывающих шероховатость межслоевых границ и используемых при расчете отражения рентгеновских лучей многослойными зеркалами методом рекуррентных соотношений, в случае двух моделей переходного слоя: ступеньки Ферми и линейного переходного слоя. Показано, что точные решения в обеих моделях в линейном по параметру шероховатости приближении эквивалентны формулам Нево-Кросе и решению, получаемому из обобщенного борновского приближения для возмущенных волнAdditional details
Additional titles
- Original title (Russian)
- К теории зеркального отражения рентгеновских лучей многослойными зеркалами. II. Точно решаемые модели переходного слоя
Publishing Information
- Journal Title
- Poverkhnost'. Rentgenovskie, Sinkhrotronnye i Nejtronnye Issledovaniya
- Journal Issue
- no.2
- Journal Page Range
- p. 62-66
- ISSN
- 1028-0960
INIS
- Country of Publication
- Russian Federation
- Country of Input or Organization
- Russian Federation
- INIS RN
- 35041079
- Subject category
- S75: CONDENSED MATTER PHYSICS, SUPERCONDUCTIVITY AND SUPERFLUIDITY;
- Descriptors DEI
- ANALYTICAL SOLUTION; BORN APPROXIMATION; MATHEMATICAL MODELS; MIRRORS; REFLECTION; ROUGHNESS; X RADIATION
- Descriptors DEC
- ELECTROMAGNETIC RADIATION; IONIZING RADIATIONS; MATHEMATICAL SOLUTIONS; RADIATIONS; SURFACE PROPERTIES
Optional Information
- Notes
- 16 refs.