Published March 2005
| Version v1
Journal article
Depth profile analysis of hydrogen and helium isotopes by electron spectroscopy
Description
The energy loss of spectra od electrons reflected from materials implanted by hydrogen isotopes and helium are investigated. Possibility of elemental composition measurements of isotopes by effect of elastic energy losses is marked. The technique of energy losses calculation for electron reflected from multi-component sample is described. Depth profile analyses of hydrogen isotopes on the base of electron energy losses spectroscopy at the different energy of probing beam is considered. Possibility of measurement for total contents of light impurity substance in structural material matrix on the base of electron spectroscopy for the depth profile analyses has been noted
Abstract (Russian)
Анализируются спектры характеристических потерь энергии (ХПЭ) электронов, отраженных от конструкционных материалов, имплантированных изотопами водорода и гелия. Отмечается возможность определения компонентного состава изотопов по эффекту потерь энергии электронов в процессе упругого отражения от легких ядер. Развита методика расчета спектров ХПЭ от многокомпонентных мишеней. Рассмотрен метод послойного анализа изотопов на основе измерения спектров ХПЭ при разилчных энергиях зондирующего пучка. Отмечена возможность измерения суммарного содержания легкой примеси в матрице конструкционного материала на основе электронной спектроскопии для послойного анализаAdditional details
Additional titles
- Original title (Russian)
- Определение послойных профилей изотопов водорода и гелия методами электронной спектроскопии
Publishing Information
- Journal Title
- Poverkhnost'. Rentgenovskie, Sinkhrotronnye i Nejtronnye Issledovaniya
- Journal Issue
- no.3
- Journal Page Range
- p. 19-23
- ISSN
- 1028-0960
Conference
- Title
- 34. International conference on physics of interaction of charged particles with crystals
- Original Conference Title
- XXXIV Mezhdunarodnaya konferentsiya po fizike vzaimodejstviya zaryazhennykh chastits s kristallami
- Dates
- 31 May - 2 Jun 2004
- Place
- Moscow (Russian Federation)
INIS
- Country of Publication
- Russian Federation
- Country of Input or Organization
- Russian Federation
- INIS RN
- 38001954
- Subject category
- S74: ATOMIC AND MOLECULAR PHYSICS; S36: MATERIALS SCIENCE;
- Resource subtype / Literary indicator
- Conference
- Descriptors DEI
- ANALYTICAL SOLUTION; AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY; DEUTERIUM; ELASTIC SCATTERING; ELECTRON BEAMS; ELECTRON DIFFRACTION; ENERGY LOSSES; ENERGY SPECTRA; GRAPHITE; HELIUM; HYDROGEN; IMPURITIES; MEASURING METHODS; MIGRATION LENGTH
- Descriptors DEC
- BEAMS; CARBON; COHERENT SCATTERING; DIFFRACTION; DIMENSIONS; ELECTRON SPECTROSCOPY; ELEMENTS; FLUIDS; GASES; HYDROGEN ISOTOPES; ISOTOPES; LENGTH; LEPTON BEAMS; LIGHT NUCLEI; LOSSES; MATHEMATICAL SOLUTIONS; MINERALS; NONMETALS; NUCLEI; ODD-ODD NUCLEI; PARTICLE BEAMS; RARE GASES; SCATTERING; SPECTRA; SPECTROSCOPY; STABLE ISOTOPES
Optional Information
- Notes
- 19 refs., 2 figs.