Published April 2006
| Version v1
Journal article
Dependence of characteristics of relativistic electron coherent X-radiation in thick crystal on its input surface orientation
Creators
- 1. Belgorodskij Gosudarstvennyj Univ., Belgorod (Russian Federation)
Description
The influence of single crystal input surface orientation on the diffracted transition radiation (DTR) under fixed orientation of atomic planes relative to relativistic electron beam is investigated. The analytical expressions of relativistic electrons DTR and parametric X-radiation spectral-angular density are deduced. Calculations f DTR silicon and germanium crystals reveal the significant dependence of DTR parameters on input surface orientation
Abstract (Russian)
Исследовалось влияние ориентации входной поверхности кристалла на дифрагированное переходное излучение (ДПИ) при неизменной ориентации атомных плоскостей относительно пучка релятивистских электронов. Получены аналитические выражения для спектрально-угловой плотности ДПИ и параметрического рентгеновского излучения. Расчеты для кристаллов кремния и германия показали существенную зависимость характеристик ДПИ от ориентации входной поверхности кристаллаAdditional details
Additional titles
- Original title (Russian)
- Зависимость характеристик когерентного рентгеновского излучения релятивистского электрона в толстом кристалле от ориентации его входной поверхности
Publishing Information
- Journal Title
- Poverkhnost'. Rentgenovskie, Sinkhrotronnye i Nejtronnye Issledovaniya
- Journal Issue
- no.4
- Journal Page Range
- p. 23-29
- ISSN
- 1028-0960
Conference
- Title
- 35. conference on physics of interaction of charged particles with crystals
- Original Conference Title
- XXXV Mezhdunarodnaya konferentsiya po fizike vzaimodejstviya zaryazhennykh chastits s kristallami
- Dates
- 27-29 May 2005
- Place
- Moscow (Russian Federation)
INIS
- Country of Publication
- Russian Federation
- Country of Input or Organization
- Russian Federation
- INIS RN
- 39021249
- Subject category
- S75: CONDENSED MATTER PHYSICS, SUPERCONDUCTIVITY AND SUPERFLUIDITY;
- Resource subtype / Literary indicator
- Conference
- Descriptors DEI
- ANALYTICAL SOLUTION; ANGULAR DISTRIBUTION; COHERENT RADIATION; CRYSTALS; ELECTRONS; GERMANIUM; ORIENTATION; REFLECTION; RELATIVISTIC RANGE; SILICON; SPECTRAL DENSITY; X RADIATION
- Descriptors DEC
- DISTRIBUTION; ELECTROMAGNETIC RADIATION; ELEMENTARY PARTICLES; ELEMENTS; ENERGY RANGE; FERMIONS; FUNCTIONS; IONIZING RADIATIONS; LEPTONS; MATHEMATICAL SOLUTIONS; METALS; RADIATIONS; SEMIMETALS; SPECTRAL FUNCTIONS
Optional Information
- Notes
- 7 refs., 6 figs.