Published March 2007 | Version v1
Journal article

Capacitance-voltage diagnostics of heterostructures with quantum wells InxGa1-xAs/GaAs: band offsets, energy quantization levels, wave functions

Creators

  • 1. Sankt-Peterburgskij Gosudarstvennyj Ehlektrotekhnicheskij Univ. LEhTI, Sankt-Peterburg (Russian Federation)

Description

The method of capacitance-voltage profiling combined with self-consistent solution of Schroedinger and Poisson equations is used to determine with the high precision the absolute values of the conduction-band offsets, energies of quantum-confinement levels, and charge-carrier concentrations in quantum-confinement subbands of InxGa1-xAs/GaAs quantum-well heterostructures with In content corresponding to the pseudomorphic growth mode (0 < x < 0.3). The characterization technique based on capacitance measurements is developed for determination the main electronic parameters of quantum-confinement heterostructures

Abstract (Russian)

В диапазоне псевдоморфного роста гетероструктур с квантовыми ямами InxGa1-xAs/GaAs (0< x < 0.30) методом вольт-фарадного профилирования самосогласованного расчета уравнений Шредингера и Пуассона прецизионно определены абсолютные величины разрывов зоны проводимости, уровни энергии размерного квантования, концентрации носителей заряда в подзонах квантования. Развит метод емкостной диагностики квантово-размерных гетероструктур для определения их основных электронных свойств

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
Диагностика гетероструктур с квантовыми ямами Ин

Publishing Information

Journal Title
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov
Journal Volume
41
Journal Issue
3
Journal Page Range
p. 331-337
ISSN
0015-3222
CODEN
FTPPA4

Optional Information

Notes
17 refs., 6 figs., 1 tab.