Published 1988 | Version v1
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Creators

  • 1. Max-Planck-Institut fuer Metallforschung, Stuttgart (Germany, F.R.). Inst. fuer Werkstoffwissenschaften
  • 2. Max-Planck-Institut fuer Metallforschung, Stuttgart (Germany, F.R.)
  • 3. Technische Hochschule Darmstadt (Germany, F.R.). Inst. fuer Chemische Technologie 2
  • 4. Max-Planck-Institut fuer Chemie (Otto-Hahn-Institut), Mainz (Germany, F.R.). Abt. Geochemie
  • 5. Max-Planck-Institut fuer Kernphysik, Heidelberg (Germany, F.R.)
  • 6. California Univ., Santa Barbara (USA). Dept. of Materials Science

Description

This book wants to provide a concise survey tailored to suit practical requirements, of the fundamentals, essential new developments, and applications of some important physical methods of analysis. These methods are termed 'physical' because they do not elicit an interaction of the compound to be analysed with other compounds but with the tools of physicists, which are: Electromagnetic waves, magnetic fields, electrons, ions, protons, or neutrons. The following individual subjects are dealt with: X-ray diffraction, electron diffraction, electron microscopy, electron spectroscopy, physical bases of X-ray fluorescence analysis, mass spectroscopy, gas chromatography, microprobe analysis, atomic absorption spectroscopy, neutron activation analysis, neutron diffraction, and neutron spectroscopy. (orig./RB) With 251 figs

Abstract (German)

Im vorliegenden Buch soll eine auf praktische Belange zugeschnittene, straff gegliederte Uebersicht gegeben werden ueber Grundlagen, wesentliche Neuentwicklungen und Anwendungsmoeglichkeiten einiger wichtiger physikalischer Analysenmethoden. Physikalisch heissen diese Methoden deswegen, weil bei ihnen der zu analysierende Stoff nicht mit anderen Stoffen zur Wechselwirkung gebracht wird sondern mit den Handwerkszeugen des Physikers, also mit elektromagnetischen Wellen, Magnetfeldern, Elektronen, Ionen, Protonen oder Neutronen. Im einzelnen werden behandelt: Roentgenbeugung, Elektronenbeugung, Elektronenmikroskopie, Elektronenspektroskopie, physikalische Grundlagen der Roentgenfluoreszenzanalyse, Massenspektroskopie, Gaschromatographie, Mikrosondenanalytik, Atomabsorptionsspektrometrie, Neutronenaktivierungsanalyse, Neutronenbeugung und -spektroskopie. (orig./RB) With 251 figs

Additional details

Additional titles

Subtitle (English)
Spectroscopy and diffraction of types of radiation for analysis of solid, liquid and gaseous compounds
Original title (German)
Physikalische Analytik
Original subtitle (German)
Spektroskopie und Beugung von Strahlenarten zur Analyse von festen, fluessigen und gasfoermigen Substanzen.

Publishing Information

Publisher
expert verl.
Imprint Place
Ehningen (Germany, F.R.)
ISBN
3-8169-0163-8
Imprint Pagination
396 p.
Journal Volume
213
Series
Kontakt und Studium.

INIS

Country of Publication
Germany
Country of Input or Organization
Germany
INIS RN
19065736
Subject category
S37: INORGANIC, ORGANIC, PHYSICAL AND ANALYTICAL CHEMISTRY;
Descriptors DEI
ABSORPTION SPECTROSCOPY; CHEMICAL ANALYSIS; CHEMICAL BONDS; CRYSTAL STRUCTURE; ELECTRON DIFFRACTION; ELECTRON MICROSCOPY; ELECTRON SPECTROSCOPY; GAS CHROMATOGRAPHY; GASES; ION MICROPROBE ANALYSIS; LIQUIDS; MASS SPECTROSCOPY; MOLECULAR STRUCTURE; NEUTRON ACTIVATION ANALYSIS; NEUTRON DIFFRACTION; SOLIDS; SURFACES; USES; X-RAY DIFFRACTION; X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS
Descriptors DEC
ACTIVATION ANALYSIS; CHROMATOGRAPHY; COHERENT SCATTERING; DIFFRACTION; FLUIDS; MICROANALYSIS; MICROSCOPY; NONDESTRUCTIVE ANALYSIS; SCATTERING; SEPARATION PROCESSES; SPECTROSCOPY; X-RAY EMISSION ANALYSIS