Published March 2001 | Version v1
Journal article

About the radiation stability of electrophysical properties in compensated silicon under γ-rays 60Co irradiation

  • 1. Inst. Yadernoj Fiziki Akademii Nauk Respubliki Uzbekistan, Tashkent, Ulugbek (Uzbekistan)

Description

The change in the concentration of the charge carriers in a compensated silicon under the γ-ray irradiation is investigated. It has been found that than carrier removal rate in the compensated silicon is lower than that of control samples. A new mechanism resulting in the radiation stability of electrophysical properties of the compensated silicon is discussed. The decreasing of the charge carrier removal rate under the exposure of γ-quanta can be explained by the radiation amplification of fluctuation barriers between low- and high-ohmic ranges and the intensification of the departure of the part of generating defects to drains in the compensated silicon with deep levels

Abstract (Russian)

Исследуется изменение концентрации носителей заряда в компенсированном кремнии под воздействием облучения γ-квантами. Обнаружено, что скорость удаления носитей заряда в компенсированном кремнии меньше, чем в контрольном образце. Обсуждается новый механизм, обусловливающий стабильность электрофизических свойств компенсированного кремния. Снижение скорости удаления носителей заряда под действием γ-квантов можно объяснить радиационным усилением флуктуационных барьеров между низко- и высокоомной областями и усилением ухода части образующихся дефектов на стоки в компенсированном кремнии с глубокими уровнями

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
К вопросу о стабилизации электрофизических свойств в компенсированном кремнии при облучении γ-квантами

Publishing Information

Journal Title
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov
Journal Volume
35
Journal Issue
3
Journal Page Range
p. 317-320
ISSN
0015-3222
CODEN
FTPPA4

Optional Information

Notes
16 refs., 2 figs., 1 tab.