Published September 1981
| Version v1
Journal article
The background as reference value of trace analysis in X-ray spectrometry
Creators
- 1. Siemens A.G., Karlsruhe (Germany, F.R.). Geschaeftsbereich Mess- und Prozesstechnik
Description
For the calibration with standard samples and the evaluation of unknown samples Rethfeld has proposed a method which was applied by him in trace analysis with good success. The method uses a linear function between the background intensity and the sensitivity (slope of the calibration function). This factual situation can be attributed to the behaviour of the mass attenuation coefficient and the mass scattering coefficient what could be demonstrated by a theoretical calculation using a plant and a cement matrix. The ratio method with the background intensity as divisor was tested in the same way with somewhat poorer results. (orig.)
Abstract (German)
Fuer die Eichung mit Standardproben und die Auswertung unbekannter Proben wurde von Rethfeld ein experimentelles Verfahren angegeben, das von ihm mit Erfolg in der Spurenanalyse angewandt wird. Es verwendet eine lineare Beziehung zwischen der Untergrundintensitaet und der Empfindlichkeit (Steigung der Eichgeraden). Man kann diesen Sachverhalt auf das Verhalten des Massenschwaechungs- und Massenstreukoeffizienten der Proben zurueckfuehren, wie an pflanzlichen Matrices und an einer Zementmatrix durch Modellrechnung gezeigt wurde. Die Quotientenmethode mit der Untergrundintensitaet als Divisor wurde auf die gleiche Weise geprueft; sie ergab etwas schlechtere Ergebnisse. (orig.)Additional details
Additional titles
- Original title (German)
- Der Untergrund als Bezugsgroesse der Spurenanalytik in der Roentgenspektrometrie
Publishing Information
- Journal Title
- Fresenius' Z. Anal. Chem.
- Journal Volume
- 308
- Journal Issue
- 4
- Series
- Fresenius' Z. Anal. Chem.
- Journal Page Range
- 347-350
- ISSN
- 0372-7920
INIS
- Country of Publication
- Germany
- Country of Input or Organization
- Germany
- INIS RN
- 13667906
- Subject category
- S37: INORGANIC, ORGANIC, PHYSICAL AND ANALYTICAL CHEMISTRY;
- Descriptors DEI
- ATTENUATION; BACKGROUND NOISE; CADMIUM; CEMENTS; CORRELATIONS; MASS; NUMERICAL SOLUTION; PLANTS; QUANTITATIVE CHEMICAL ANALYSIS; SCATTERING; SENSITIVITY; SIMULATION; THALLIUM; TRACE AMOUNTS; VANADIUM; X-RAY SPECTRA; X-RAY SPECTROSCOPY
- Descriptors DEC
- BUILDING MATERIALS; CHEMICAL ANALYSIS; ELEMENTS; METALS; NOISE; SPECTRA; SPECTROSCOPY; TRANSITION ELEMENTS