Investigation about Ge(Li) gamma ray detectors. Expectation of life
Description
A list of Ge(Li) gamma ray detectors has been drawn up by a working group after investigations in various laboratories. The historical account of each detector is analyzed and some characteristics are investigated: detector expectation of life, deficiencies and death; influence of detector manufacturer. This list collects the characteristics of 132 detectors between 1965 and 1975. The conclusions of the authors are: with a probability of 0.95, half of the detectors is dead before 6.0+-1.1 years; resolution and efficiency evolution are good indicators of possible deficiency. Detector death very often results from accidental reheating; the number of detectors, the variety of manufacturors, and the technology evolution do not allow to conclude about the third point
Availability note (English)
MF available from INIS under the Report Number.Abstract (French)
Un fichier de detecteurs gamma a semiconducteur, de type germanium dope au lithium, a ete elabore par un groupe de travail, apres enquete aupres de differents laboratoires. On cherche, partant de l'historique de chaque detecteur, a repondre a plusieurs questions d'ordre pratique: taux de survie des detecteurs, causes d'incidents et de deces, influence de l'origine du detecteur. Le fichier realise regroupe les caracteristiques de 132 detecteurs mis en fonction entre 1965 et 1975. L'analyse des donnees recueillies permet de dire que: pour une probabilite de 95% et le lot considere, la moitie des detecteurs decede apres environ 6,0+-1,1 an de fonctionnement; l'evolution de la resolution et de l'efficacite est un bon indicateur d'incident. La majeure partie des deces est liee a un rechauffement accidentel (perte de vie ou manque d'azote); le nombre de detecteurs, la diversite des fournisseurs et l'evolutin de la technologie ne permettent pas de discerner des differences d'un constructeur a l'autreFiles
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Additional titles
- Original title (French)
- Enquete sur les detecteurs gamma a semiconducteur. Estimation du taux de survie
Publishing Information
- Imprint Pagination
- 31 p.
- Report number
- CEA-N--1924
INIS
- Country of Publication
- France
- Country of Input or Organization
- France
- INIS RN
- 8303762
- Subject category
- S46: INSTRUMENTATION RELATED TO NUCLEAR SCIENCE AND TECHNOLOGY;
- Descriptors DEI
- FAILURE MODE ANALYSIS; GAMMA DETECTION; LI-DRIFTED GE DETECTORS; RELIABILITY; SPECIFICATIONS; STATISTICS
- Descriptors DEC
- GE SEMICONDUCTOR DETECTORS; LI-DRIFTED DETECTORS; MATHEMATICS; MEASURING INSTRUMENTS; RADIATION DETECTION; RADIATION DETECTORS; SEMICONDUCTOR DETECTORS; SYSTEM FAILURE ANALYSIS; SYSTEMS ANALYSIS