Calculations of the rates of spontaneous xenon atom transitions over the surface of nickel and onto a tungsten point of a scanning tunnel microscope
- 1. Moskovskij Gosudarstvennyj Univ. Inzhenernoj Ehkologii, Moscow (Russian Federation)
- 2. Moskovskij Fiziko-Tekhnicheskij Inst., Moscow (Russian Federation)
Description
Frequencies of spontaneous xenon atom transitions from the surface of Ni onto a tungsten point of a scanning tunneling microscope, as well as over the surface of nickel are estimated using initial expressions of the theory of transient state and calculated surface of potential energy. Depths of potential holes, heights of barriers between neighboring holes and characteristic frequencies of normal oscillations in a hole and activated complex are calculated for Xe atom. Found values of frequencies of transitions was shown to be in line with classical limit at high temperatures calculated by Langevin dynamics method. The effect of anharmonism at high temperatures and the role of quantum effect at low temperatures were revealed. Dependence between frequencies of transitions and support-point distance is calculated
Abstract (Russian)
С помощью исходных выражений теории переходного состояния и рассчитанной поверхности потенциальной энергии оценены частоты спонтанных переходов атома Хе с поверхности Ni на вольфрамовое острие сканирующего туннельного микроскопа, а также вдоль поверхности никеля. Для атома Хе рассчитаны глубины потенциальных ям, высоты барьеров между соседними ямами и собственные частоты нормальных колебаний в яме и в активированном комплексе. Показано, что найденные значения частот переходов согласуются с классическим пределом при высоких температурах, вычисленным методом ланжевеновской динамики. Выявлены влияние ангармонизма при высоких температурах и роль квантовых эффектов при низких темепературах. Рассчитана зависимость частот переходов от расстояния подложка-остриеAdditional details
Additional titles
- Original title (Russian)
- Расчеты скоростей спонтанных переходов атома ксенона вдол' поверхности никеля и на вольфрамовое острие сканирующего туннельного микроскопа
Publishing Information
- Journal Title
- Zhurnal Fizicheskoj Khimii
- Journal Volume
- 75
- Journal Issue
- 4
- Journal Page Range
- p. 665-669
- ISSN
- 0044-4537
- CODEN
- ZFKHA9
INIS
- Country of Publication
- Russian Federation
- Country of Input or Organization
- Russian Federation
- INIS RN
- 33022176
- Subject category
- S75: CONDENSED MATTER PHYSICS, SUPERCONDUCTIVITY AND SUPERFLUIDITY;
- Descriptors DEI
- ACTIVATION ENERGY; ENERGY-LEVEL TRANSITIONS; FREQUENCY DEPENDENCE; LANGEVIN EQUATION; NICKEL; POTENTIAL ENERGY; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SURFACE PROPERTIES; TEMPERATURE DEPENDENCE; TUNGSTEN; XENON
- Descriptors DEC
- ELEMENTS; ENERGY; EQUATIONS; FLUIDS; GASES; METALS; MICROSCOPY; NONMETALS; RARE GASES; REFRACTORY METALS; TRANSITION ELEMENTS
Optional Information
- Notes
- 11 refs., 3 figs., 1 tab.