Published January 1999 | Version v1
Journal article Metadata-only

Multilayer X-ray mirror spectrometers for high-temperature plasma diagnostics

Creators

  • 1. GNTs Inst. Yadernoj Fiziki im. G.I. Budkera SO RAN, Novosibirsk (Russian Federation)

Description

Spectrometers based on multilayer X-ray mirrors produced at the Budker Institute of Nuclear Physics for experiments on thermonuclear facilities as RFX (Padove, Italy) and GAMMA-10 (Tsukuba, Japan) are described. The main purpose of the spectrometers is monitoring the oxygen impurities by the x radiation of the Kα lines of O6+ and O7+ ions at Λ = 2.16 and 1.9 nm correspondingly. Experimental data on spectral characteristics of multilayer X-ray mirrors are presented

Abstract (Russian)

Описываются разработанные в последнее время в Институте ядерной физики им. Г.И. Будкера СО РАН спектрометры для экспериментов на термоядерных установках RFX (г. Падуя, Италия) и GAMMA-10 (г. Цукуба, Япония). Основная задача этого спектрометра - мониторинг примесей кислорода по рентгеновскому излучению Кα - линий ионов О6+ и О7+, длины волн Λ = 2.16 и 1.9 нм соответственно. Приводятся данные по спектральным характеристикам ряда многослойных рентгеновских зеркал

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
Спектрометры на основе многослойных рентгеновских зеркал для диагностики высокотемпературной плазмы

Publishing Information

Journal Title
Poverkhnost'. Rentgenovskie, Sinkhrotronnye i Nejtronnye Issledovaniya
Journal Issue
no.1
Journal Page Range
p. 151-154
ISSN
1028-0960

Conference

Title
99. Russian working conference on X-ray optics
Original Conference Title
Vserossijskoe rabochee soveshchanie. Rentgenovskaya optika
Dates
1-4 Mar 1999
Place
Nizhnij Novgorod (Russian Federation)

INIS

Country of Publication
Russian Federation
Country of Input or Organization
Russian Federation
INIS RN
31036844
Subject category
S70: PLASMA PHYSICS AND FUSION TECHNOLOGY;
Resource subtype / Literary indicator
Conference
Descriptors DEI
CALIBRATION; MIRRORS; OPTICAL SYSTEMS; PERFORMANCE; PLASMA DIAGNOSTICS; PLASMA IMPURITIES; SOFT X RADIATION; X-RAY SPECTROMETERS
Descriptors DEC
ELECTROMAGNETIC RADIATION; IMPURITIES; IONIZING RADIATIONS; MEASURING INSTRUMENTS; RADIATIONS; SPECTROMETERS; X RADIATION

Optional Information

Notes
17 refs., 2 tabs., 2 figs.