Published May 1985 | Version v1
Journal article

Characteristic of probe coil systems for the application of the pulsed eddy current techniques

Description

In relation to applications of the pulsed eddy current techniques the essential features of probe coil systems are evaluated by measurements on test specimen with artificial defects. For cracklike defects which are open to the surface of testing the characteristic of the signal voltage as a function of the crack depth and the local resolution for defects that are close together are typical qualities which determine the field of application of a coil device. As characterizing parameter the use of the effective coil width is discussed. The explanations are completed by some examples of practical applications. (orig.)

Abstract (German)

Im Zusammenhang mit Anwendungen des Impuls-Wirbelstromverfahrens wurden die fuer eine Pruefaufgabe wichtigen charakteristischen Merkmale von Tastspulensystemen durch Messungen an Kontrollkoerpern mit kuenstlichen Fehlern ermittelt. Fuer zur Pruefflaeche hin offene rissartige Fehler sind die Kennlinie der Signalspannung als Funktion der Risstiefe und das oertliche Aufloesungsvermoegen fuer eng benachbarte Materialtrennungen typische Eigenschaften, die den Anwendungsbereich einer Spulenanordnung festlegen. Die Einfuehrung der Spulenwirkbreite als kennzeichnende Groesse wird diskutiert. Die Ausfuehrungen werden durch Beispiele aus der Pruefpraxis ergaenzt. (orig.)

Additional details

Additional titles

Original title (German)
Eigenschaften von Tastspulen fuer die Anwendung des Impuls-Wirbelstromverfahrens

Publishing Information

Journal Title
Materialpruefung
Journal Volume
27
Journal Issue
5
Series
CODEN: MTPRA.;Materialpruefung.
Journal Page Range
123-126
ISSN
0025-5300

INIS

Country of Publication
Germany
Country of Input or Organization
Germany
INIS RN
16058190
Subject category
S42: ENGINEERING;
Descriptors DEI
CRACKS; EDDY CURRENT TESTING; ELECTRIC COILS; ELECTRIC PROBES; PULSE TECHNIQUES; RESOLUTION; SIGNALS; WELDED JOINTS
Descriptors DEC
ELECTRICAL EQUIPMENT; ELECTROMAGNETIC TESTING; EQUIPMENT; JOINTS; MATERIALS TESTING; NONDESTRUCTIVE TESTING; PROBES; TESTING