Published June 2004 | Version v1
Journal article

Investigation of properties of photovoltaic X-ray detectors based on epitaxial GaAs structures

  • 1. RAN, Inst. Radiotekhniki i Ehlektroniki, Fryazinskoe Otdelenie, Fryazino, Moskovskaya Obl. (Russian Federation)

Description

Paper presents the results for a new GaAs epitaxial structure base photovoltaic detector operating without bias voltage and at room temperature and examined under the effect of bremsstrahlung X-ray radiation. On the basis of detector photoresponse one calculated the efficiency of absorbed energy conversion into short-circuit current within 12--120 keV photon energy range. The maximum value of conversion efficiency in GaAs for bremsstrahlung X-ray radiation occurs at 80 keV energy. To increase absorption of X-ray photons one suggested and calculated procedure of inclined irradiation of a thin 50 μm detector

Abstract (Russian)

Представлены результаты исследования под действием тормозного рентгеновского излучения нового фотовольтаического детектора на основе эпитаксиальных структур GaAs, работающего без напряжения смещения и при комнатной температуре. Из измерений фотоотклика детектора рассчитана эффективность преобразования поглощенной энергии в ток короткого замыкания в диапазоне энергий фотонов от 12 до 120 кэВ. Максимальное значение эффективности преобразования в GaAs для тормозного рентгеновского излучения находится при энергии 80 кэВ. Для увеличения поглощения рентгеновских фотонов предложена и рассчитана схема наклонного облучения тонкого 50 мкм детектора

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
Исследование свойств фотовольтаических детекторов рентгеновского излучения на основе эпитаксиальных структур GaAs

Publishing Information

Journal Title
Zhurnal Tekhnicheskoj Fiziki
Journal Volume
74
Journal Issue
6
Journal Page Range
p. 126-128
ISSN
0044-4642
CODEN
ZTEFA3

Optional Information

Notes
3 refs., 4 figs.