Published January 2004 | Version v1
Journal article Metadata-only

Electron microscopy study of crystal growth in copper-tellurium amorphous films of variable thickness and composition

Creators

  • 1. Ural'skij Gosudarstvennyj Ehkonomicheskij Univ., Ekaterinburg (Russian Federation)

Description

The formation of tellurium crystals with internal lattice distortion in amorphous tellurium-copper films of variable composition and thickness is investigated. It is revealed that the degree of biaxial distortion of tellurium crystal lattice increases with a decrease of amorphous tellurium-copper film thickness. The growth of the degree of tellurium crystal lattice distortion is also observed with a copper percentage increase in a amorphous tellurium-copper film. Film thickness and copper percentage decrease results in the relative elongation of tellurium crystals

Abstract (Russian)

Исследовалось формирование кристаллов теллура с внутренним искривлением решетки в аморфных пленках теллур-медь переменного состава и толщины. Установлено, что с уменьшением толщины аморфной пленки теллур-медь степень двухосевого искривления решетки кристаллов теллура возрастает. С увеличением процентного содержания меди в аморфной пленке теллур-медь происходит рост степени искривления решетки кристаллов теллура. Уменьшение толщины пленки и уменьшение процентного содержания в ней меди приводит к относительному удлинению кристаллов теллура

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
Электронно-микроскопическое исследование роста кристаллов в аморфных пленках теллур–медь переменного состава и толщины

Publishing Information

Journal Title
Poverkhnost'. Rentgenovskie, Sinkhrotronnye i Nejtronnye Issledovaniya
Journal Issue
no.1
Journal Page Range
p. 95-98
ISSN
1028-0960

INIS

Country of Publication
Russian Federation
Country of Input or Organization
Russian Federation
INIS RN
37046435
Subject category
S36: MATERIALS SCIENCE;
Descriptors DEI
AMORPHOUS STATE; BIMETALS; COPPER; CRYSTAL LATTICES; CRYSTALLIZATION; ELECTRON MICROSCOPY; LATTICE PARAMETERS; LAYERS; SHAPE; TELLURIUM; THICKNESS; THIN FILMS; VAPOR DEPOSITED COATINGS
Descriptors DEC
COATINGS; CRYSTAL STRUCTURE; DIMENSIONS; ELEMENTS; FILMS; METALS; MICROSCOPY; PHASE TRANSFORMATIONS; SEMIMETALS; TRANSITION ELEMENTS

Optional Information

Notes
6 refs., 4 figs.