Published May 2004 | Version v1
Journal article

Secondary ion energy distribution and the electron work function

  • 1. RAN, Fiziko-Tekhnicheskij Inst. im. A.F. Ioffe, Sankt-Peterburg (Russian Federation)
  • 2. Ryazanskij Gosudarstvennyj Pedagogicheskij Univ., Ryazan' (Russian Federation)

Description

Ion-ion emission as a result of the electron exchange in the system of solid state - atomic emitted particle is considered. The characteristics of the secondary ion signal are indicated. The influence of the electron work function of AlxGa1-xAs samples is studied The increasing of the work function under O+ ion action gives rise to the secondary ion spectrum width and decreasing of the work function results in decreasing the spectrum width (Cs+ on action)

Abstract (Russian)

Рассмотрен процесс ионно-ионной эмиссии как результат электронного обмена в системе твердое тело - эмиттируемая атомная частица. Указаны факторы, изменяющие характеристики сигнала вторичных ионов. Влияие работы выхода изучалось на образцах AlxGa1-xAs при воздействии ионов O+ и Cs+. Повышение работы выхода (ионный зонд O+) увеличивает ширину энергетического спектра всех вторичных ионов, а понижение (зонд Cs+) уменьшает

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
Энергораспределение вторичных ионов и работа выхода электрона

Publishing Information

Journal Title
Poverkhnost'. Rentgenovskie, Sinkhrotronnye i Nejtronnye Issledovaniya
Journal Issue
no.5
Journal Page Range
p. 44-47
ISSN
1028-0960

Optional Information

Notes
15 refs.; 3 figs.