Published February 2001
| Version v1
Journal article
X-ray microscopy with the use of asymmetrical reflection from a single crystal
Creators
- 1. Moskovskij Gosudarstvennyj Univ. im. M.V. Lomonosova, Moscow (Russian Federation)
- 2. Inst. Kristallografii RAN, Moscow (Russian Federation)
Description
The theoretical and experimental possibilities of obtaining enlarged images in the hard range of the wave lengths (λ= 0.05-0.3 nm) by means of asymmetric crystal monochromators are considered. The copper object lattice for electron microscopy and tantalum shock membrane were chosen as objects. The possibility of obtaining the objects enlarged images with a resolution of ∼ 20 μm is substantiated. The images of a number of objects with enlargement by ∼ 20 times are obtained. It turned out well to register enlarged images of holes in the shock track membranes with the minimal diameter of about 20 μm
Abstract (Russian)
Рассмотрены теоретические и экспериментальные возможности получения увеличенных изображений в жестком диапазоне длин волн (λ = 0.05-0.3 нм) с помощью асимметричных кристаллов - монохроматоров. В качестве объектов выбраны медная предметная решетка для электронной микроскопии и танталовая ударная мембрана. Обоснована возможность получения увеличенных изображений объектов с разрешением примерно 20 мкм. Получено изображение ряда объектов с увеличением около 20. Удалось зарегистрировать увеличенные изображения отверстий в ударных трековых мембранах с минимальным диаметром порядка 20 мкмAdditional details
Additional titles
- Original title (Russian)
- Рентгеновская микроскопия с использованием асимметричного отражения от монокристалла
Publishing Information
- Journal Title
- Pis'ma v Zhurnal Ehksperimental'noj i Teoreticheskoj Fiziki
- Journal Volume
- 73
- Journal Issue
- 3-4
- Journal Page Range
- p. 205-209
- ISSN
- 0370-274X
- CODEN
- PZETAB
INIS
- Country of Publication
- Russian Federation
- Country of Input or Organization
- Russian Federation
- INIS RN
- 33019897
- Subject category
- S46: INSTRUMENTATION RELATED TO NUCLEAR SCIENCE AND TECHNOLOGY;
- Descriptors DEI
- DEFECTS; ELECTRON MICROSCOPY; FOILS; HARD X RADIATION; IMAGES; MEASURING METHODS; MEMBRANES; MICROSCOPY; MONOCHROMATORS; SPATIAL RESOLUTION; TANTALUM; X-RAY EQUIPMENT
- Descriptors DEC
- ELECTROMAGNETIC RADIATION; ELEMENTS; EQUIPMENT; IONIZING RADIATIONS; METALS; MICROSCOPY; RADIATIONS; REFRACTORY METALS; RESOLUTION; TRANSITION ELEMENTS; X RADIATION
Optional Information
- Notes
- 7 refs., 5 figs.