A new approach to intensity and background corrections for roentgenographic residual stress measurement using the ω-diffractometer
Description
This report deals with the correction of intensity distributions of diffraction lines and background radiation for roentgenographic residual stress determination. The x-ray physical fundamentals of various effects influencing both the measurable intensity distribution of diffraction lines and different proportions of background radiation are compiled and a new method of intensity and background correction is derived. The new approach is tested and verified using residual stress analyses of different material conditions with different levels of background radiation. The results show that the method provides quantitatively correct residual stress analyses even in cases where the previously common procedure for intensity and background correction fails. (orig./MM)
Availability note (English)
MF available from INIS under the Report Number.Abstract (German)
Diese Arbeit befasst sich mit der Korrektur von Intensitaetsverteilungen von Beugungslinien und Untergrundstrahlung bei der roentgenographischen Eigenspannungsermittlung. Die roentgenphysikalischen Grundlagen der verschiedenen Einfluesse auf die messbare Intensitaetsverteilung von Beugungslinien und auf die verschiedenen Anteile von Untergrundstrahlung werden zusammengestellt und ein neues Verfahren zur Intensitaets- und Untergrundkorrektur abgeleitet. Der neue Ansatz wird anhand von Eigenspannungsanalysen an unterschiedlichen Werkstoffzustaenden mit unterschiedlichen Niveaus von Untergrundstrahlung erprobt und ueberprueft. Die Ergebnisse zeigen, dass das Verfahren auch in den Faellen, in denen die bislang uebliche Verfahrensweise zur Intensitaets- und Untergrundkorrektur versagt, quantitativ korrekte Eigenspannungsanalysen ermoeglicht, liefert. (orig./MM)
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Additional titles
- Original title (German)
- Ein neuer Ansatz fuer Intensitaets- und Untergrundkorrekturen bei der roentgenographischen Eigenspannungsmessung mit dem ω-Diffraktometer
Publishing Information
- Imprint Pagination
- 46 p.
- Report number
- FhG-IWM-W--5/90
INIS
- Country of Publication
- Germany
- Country of Input or Organization
- Germany
- INIS RN
- 23017256
- Subject category
- S42: ENGINEERING;
- Descriptors DEI
- CORRECTIONS; STRESS ANALYSIS; X-RAY DIFFRACTION
- Descriptors DEC
- COHERENT SCATTERING; DIFFRACTION; SCATTERING