Published March 2004
| Version v1
Journal article
SinOm- clusters: structure and stability under ion sputtering
Description
The results of the study on the mass-distribution, monomolecular dissociation, decay energy spectra and dissociation energy of the (SiO2)2n+1-, obtained through the silicon sputtering by the O2+ ions with the energy of 17.5 keV, are presented. It is shown that the structures of the sputtered (SiO2)nO- and theoretically calculated (SiO2)nO- clusters are identified in the basic state. The (SiO2)nO- sputtered clusters constitute the complex ion, consisting of the (SiO2)n ion and the carrying charge O-, having one free bond as in the case of the inorganic polymer molecules
Abstract (Russian)
Представлены результаты исследования масс-распределения, мономолекулярной диссоциации, спектров энергии распада и энергии диссоциации кластеров (SiO2)2n+1-, полученных распылением кремния ионами О2+ с энергией 17.5 кэВ. Показано, что структуры распыленных (SiO2)nO- и теоретически рассчитанных кластеров (SiO2)nO- в основном состоянии идентичны. Распыленные кластеры (SiO2)nO- представляют собой комплексный ион, состоящий из ядра (SiO2)n и несущего заряд О-, имеющий одну свободную связь подобно неорганическим полимерным молекуламAdditional details
Additional titles
- Original title (Russian)
- Кластеры Си
Publishing Information
- Journal Title
- Izvestiya Akademii Nauk. Rossijskaya Akademiya Nauk. Seriya Fizicheskaya
- Journal Volume
- 68
- Journal Issue
- 3
- Journal Page Range
- p. 374-379
- ISSN
- 1026-3489
- CODEN
- IRAFEO
Conference
- Title
- 16. International conference on ion-surface interaction (ISI-2003)
- Original Conference Title
- XVI Mezhdunarodnaya konferentsiya: vzaimodejstvie ionov s poverkhnost'yu VIP-2003
- Dates
- Aug 2003
- Place
- Zvenigorod (Russian Federation)
INIS
- Country of Publication
- Russian Federation
- Country of Input or Organization
- Russian Federation
- INIS RN
- 36037864
- Subject category
- S75: CONDENSED MATTER PHYSICS, SUPERCONDUCTIVITY AND SUPERFLUIDITY;
- Resource subtype / Literary indicator
- Conference
- Descriptors DEI
- ACTIVATION ENERGY; CLUSTER MODEL; IONS; KINETIC ENERGY; RECOILS; SILICON OXIDES; SPUTTERING
- Descriptors DEC
- CHALCOGENIDES; CHARGED PARTICLES; ENERGY; MATHEMATICAL MODELS; NUCLEAR MODELS; OXIDES; OXYGEN COMPOUNDS; SILICON COMPOUNDS
Optional Information
- Notes
- 19 refs., 3 figs., 2 tabs.