Published November 2007 | Version v1
Journal article Metadata-only

Compensation of space ion charge in time-of-flight mass analyzer

Creators

  • 1. Inst. Fiziki NAN Azerbajdzhana, Baku (Azerbaijan)

Description

The investigations conducted suggest potentiality of forced compensation for ion space charge in an axially symmetric analyzer by introducing into the drift space of an electron source located beyond its working range. Hence, the electrons, continuously penetrating the ion beam, compensate partially for the space charge, which promotes increase in the analyzer resolution. It has been ascertained experimentally that overcompensation of space charge results in degradation of the device dispersion characteristics

Abstract (Russian)

Проведенные исследования показали возможность принудительной компенсации объемного заряда ионов в осесимметричном анализаторе путем введения в дрейфовое пространство источника электронов, расположенного вне его рабочей области. При этом электроны, непрерывно пронизывая ионный пучок, частично компенсируют объемный заряд, что способствует увеличению разрешающей способности анализатора. Экспериментально установлено, что перекомпенсация объемного заряда приводит к ухудшению дисперсионных характеристик прибора

Additional details

Additional titles

Original title (Russian)
Kompensatsiya ob''emnogo zaryada ionov vo vremyaproletnom mass-analizatore

Publishing Information

Journal Title
Zhurnal Tekhnicheskoj Fiziki
Journal Volume
77
Journal Issue
11
Journal Page Range
p. 123-126
ISSN
0044-4642
CODEN
ZTEFA3

INIS

Country of Publication
Russian Federation
Country of Input or Organization
Russian Federation
INIS RN
39119956
Subject category
S46: INSTRUMENTATION RELATED TO NUCLEAR SCIENCE AND TECHNOLOGY;
Resource subtype / Literary indicator
Numerical Data
Descriptors DEI
CURRENT DENSITY; DIAGRAMS; EXPERIMENTAL DATA; ION BEAMS; MASS RESOLUTION; SPACE CHARGE; TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETERS
Descriptors DEC
BEAMS; DATA; DYNAMIC MASS SPECTROMETERS; INFORMATION; MASS SPECTROMETERS; MEASURING INSTRUMENTS; NUMERICAL DATA; RESOLUTION; SPECTROMETERS; TIME-OF-FLIGHT SPECTROMETERS

Optional Information

Notes
7 refs., 4 figs.