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AbstractAbstract
[en] Secondary ion mass spectrometry is a highly sensitive method for isotopespecific determinations of concentration distributions of chemical elements and compounds in solids. This paper discusses the principle and scope of this method and some special application possibilities in nuclear engineering. (orig.) 891 HP 892 EKI
[de]
Die Sekundaerionen-Massenspektrometrie ist eine hochempfindliche Methode zur isotopenspezifischen Bestimmung der Konzentrationsverteilung chemischer Elemente und Verbindungen in Festkoerpern. Prinzip und Leistungsfaehigkeit dieser Methode werden besprochen und spezielle Anwendungsmoeglichkeiten in der Kerntechnik aufgezeigt. (orig.)Original Title
Sekundaerionen-Massenspektrometrie (SIMS), eine neue Methode zur Analyse von Festkoerpern
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Record Type
Journal Article
Journal
Kerntechnik; v. 20(10); p. 467-470
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