Filters
Results 1 - 1 of 1
Results 1 - 1 of 1.
Search took: 0.018 seconds
AbstractAbstract
[en] Commercial Nb3Sn multifilamentary wires have been investigated by TEM and REM methods to study the relation between volume pinning force Fsub(p) and average grain size d. To do this, 35 short samples have been reacted at different conditions (5700C - 8000C, 4 h - 200 h) in an inert gas atmosphere, critical current has been measured in transverse fields up to 13 Tesla and current density and volume pinning force have been calculated from the reacted area determined by electron microscope investigation. The average grain size was evaluated from TEM photogrphs and ranged from 30 nm to 210 nm. Before TEM could be applied, the samples had to be thinned first electrolytically and then by sputter etching. The correlation between the maximum volume pinning force Fsub(pmax) and the reciprocal grain diameter d-1 (= linear grain boundary density) follows a Fsub(pmax) proportional t d-2/3 law for 5μm-1 < d-1 < 30μm-1 (210 nm > d > 33 nm) within the experimental error. At d-1 approximately equal to 30μm-1 (d approxymately equal to 33 nm) a maximum seems to exist. (orig./WBU)
[de]
Mit Hilfe von elektronenmikroskopischen Untersuchungsmethoden wurde an kommerziellen Nb3Sn-Vielkernleitern der Zusammenhang zwischen Volumenpinningkraft Fsub(p) und mittlerer Korngroesse des Materials untersucht. Dazu wurden 35 Kurzproben bei unterschiedlichen Bedingungen (5700C - 8000C, 4 h - 200 h) unter Schutzgas einer Diffusionsreaktion ausgesetzt. Ihre kritischen Stroeme wurden in transversalen Magnetfeldern bis zu 13 T gemessen und die Stromdichten und Volumenpinningkraefte des Nb3Sn bestimmt, wobei die Reaktionsflaechen elektronenmikroskopisch ausgemessen wurden. TEM-Aufnahmen lieferten die mittlere Korngroesse; hierzu wurden die Proben elektrolytisch und durch Sputteraetzen vorgeduennt. Entsprechend den Reaktionsbedingungen wurden Korngroessen von 30 nm bis 210 nm ermittelt. Es ergab sich ein im Rahmen der Messfehler eindeutiger, unterproportionaler Zusammenhang Fsub(pmax) proportional zu d-2/3 der maximalen Volumenpinningkraft Fsub(pmax) mit der inversen Korngroesse (= lineare Korngrenzendichte) im Bereich von 5μm-1 < d-1 < 30μm-1 (210 nm > d > 33 nm). Bei d-1 ungefaehr = 30μm-1 (d ungefaehr = 33 nm) scheint ein Maximum in diesem Verlauf vorzuliegen. (orig./WBU)Original Title
Zusammenhang zwischen Reaktionsbedingungen, Kornstruktur und Pinningverhalten bei filamentisierten Nb3Sn-Supraleitern
Primary Subject
Source
Oct 1978; 75 p; With app.; Diploma thesis.
Record Type
Report
Literature Type
Thesis/Dissertation
Report Number
Country of publication
Reference NumberReference Number
INIS VolumeINIS Volume
INIS IssueINIS Issue