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Guerin, J.P.; Huet, Jacques; Pauton, Michel.
CEA Centre d'Etudes Nucleaires de Saclay, 91 - Gif-sur-Yvette (France)1982
CEA Centre d'Etudes Nucleaires de Saclay, 91 - Gif-sur-Yvette (France)1982
AbstractAbstract
[en] A 400 kV X-ray industrial scanner has been developed. The present paper describes the CAMAC acquisition system. This unit with its 3 microprocessors, 2 mass memories and TV graphic display is very flexible; it will be used to optimise measurement parameters along with pieces to be checked and to establish application limits of this non destructive inspection method. This system allows internal inspection of objects as big as 400 mm in diameter with an elementary volume of 1 x 1 x 5 mm3 and specific weight in the range of 0.7 to 10 g/cm3. Relative precision of 10-3 in density for moulded objects is expected. The first results obtained are shown
[fr]
Un prototype de tomographe industriel a rayons X de 400 kV a ete developpe. On decrit l'architecture du systeme d'acquisition CAMAC, son mode de fonctionnement et sa programmation. Cet ensemble qui comprend 3 microprocesseurs, 2 memoires de masse et une visualisation graphique TV est tres souple; il permettra d'optimiser les parametres de mesure en fonction de la nature et de la taille des pieces a controler et de chercher les limites d'application de cette methode de controle non destructif. Ce systeme permet l'examen interne de pieces mesurant jusqu'a 400 mm de diametre avec un volume elementaire de 1 x 1 x 5 mm3. Suivant les dimensions des objets, les masses volumiques des materiaux constitutifs sont comprises entre 0,7 et 10 g/cm3. On espere obtenir des precisions relatives de l'ordre de 10-3 lors de l'examen tomodensitometrique de materiaux moules. On indique les premiers resultats obtenus avec cet appareillageOriginal Title
Systeme d'acquisition CAMAC pour tomographe a rayons X industriel
Primary Subject
Secondary Subject
Source
Nov 1982; 5 p; 2. International congress of real time data; Versailles (France); 3 - 5 Nov 1982
Record Type
Report
Literature Type
Conference
Report Number
Country of publication
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INIS IssueINIS Issue