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AbstractAbstract
[en] Using a low temperature diffractometer, intermediate valence effects and crystal defects can be identified from the temperature dependence of the lattice parameters and the Debye-Waller factor. For polycrystalline powder samples the measuring error are too large. For intermediate valence systems the relative change in the 4f-level population probability can be calculated together with the anisotropic effects on the lattice parameters and on the unit cell colume. Pronounced effects on the lattice parameters can be observed in the case of RE Cu2Si2 compounds with crystal fields. (DG)
[de]
Mittels des Tieftemperaturdiffraktometers ist es moeglich, Zwischenvalenzeffekte und Kristalleffekte aus der Temperaturabhaengigkeit der Gitterkonstante bzw. Debye-Waller Faktors zu erkennen. Bei Messungen an polykristallinen Pulverproben konnte keine ausreichende Genauigkeit erzielt werden. Bei zwischenvalenten Systemen laesst sich eine prozentuale Aenderung der Besetzungswahrscheinlichkeit des 4f-Niveaus und die anisotropen Auswirkungen auf die Gitterkonstanten und das Volumen der Einheitszelle berechnen. Bei SE Cu2Si2-Verbindungen mit Kristallfeldern konnten starke Effekte in den Gitterkonstanten festgestellt werden. (DG)Original Title
Tieftemperaturanomalien der Gitterkonstanten bei Seltenen-Erd-Verbindungen und UPd3
Primary Subject
Source
8 Nov 1980; 168 p; Diss. (D.Sc.).
Record Type
Miscellaneous
Literature Type
Thesis/Dissertation
Report Number
Country of publication
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